FISCHER鍍層X射線測厚儀

菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210典型的應用領域有：

? 測量大規模生產的電鍍部件

? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

? 全自動測量，如測量印刷線路板

? 分析電鍍溶液

菲希爾X射線光譜儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210設計理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據樣品平臺的運行模式以及固定或者可調節的Z 軸系統來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。