Fischerscope X-ray XAN215鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器供應是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 菲希爾X射線測厚儀無錫駿展儀器一樣，減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。