泰勒霍普森Surtronic S128

泰勒霍普森Surtronic S128

泰勒霍普森粗糙度儀技術規格：

泰勒霍普森粗糙度儀測量能力S-116S-128

泰勒霍普森粗糙度儀傳感器量程200 µm / 100 µm / 10 µm400 µm / 100 µm / 10 µm

分辨率100 nm / 20 nm / 10 nm50 nm / 10 nm / 5 nm

低噪音 (Ra)250 nm / 150 nm / 100 nm150 nm / 100 nm / 50 nm

重復性 (Ra)1 % 值 + 噪 音0.5 % 值 + 噪 音

傳感器類型電感

測量力150-300 mg

測頭針尖半徑5 µm (200 µin)默認/2 µm (80 µin)或10 µm (400 µin) 可選

測量類型導塊滑動

泰勒霍普森粗糙度儀校正過程自動軟件校正程序

標準能夠根據ISO 4287粗糙度標準校正

泰勒霍普森粗糙度儀分析濾波器取樣長度0.25 mm/0.8 mm/2.5 mm

濾波器類型2CR/高斯

評價長度0.25 mm-17.5 mm(0.01 in-0.70 in)0.25 mm-25.0 mm(0.01 in-1.00 in)

X軸zui大行程17.5 mm25.5 mm

泰勒霍普森粗糙度儀速度測量速度1 mm/秒  (0.04 in/秒)

返回速度1.5 mm/秒  (0.06 in/秒)

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