日本JEOL 場發射電子探針顯微分析儀 JXA-8530F Plus

產品特點：



· 肖特基場發射電子探針Plus

· JXA-8530F Plus采用浸沒式肖特基場發射電子槍,優化了角電流密度，能利用2 μA以上的大探針電流進行分析，還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。



· 靈活的WDS配置

· X射線波譜儀可以選擇140 R或100 R羅蘭圓， 羅蘭圓半徑為140 mm的XCE/L型X射線譜儀檢測范圍寬，波長分辨率高和P/ B比優異，100 mm的H型X射線譜儀具有X射線衍射強度高的特點，可以根據需要選擇使用。



· 高級軟件

· 新開發了多種基于Windows操作系統的軟件，其中包括：能使痕量元素分析更加簡便的“痕量元素分析程序"、能自動制作相圖的“相圖制作器"以及只需簡單輸入就能對表面凹凸不平樣品進行測試的“不平坦樣品的分析程序"等。

· 備注：Windows7® 為美國微軟公司在美國及其它國家的注冊商標或商標。