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當前位置：深圳市科時達電子科技有限公司>>電子元器件>>光電器件>> 德國KSI－ Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統 產品關鍵詞:ksi系統;高分辨率超聲波;ksi超聲波
紫外-可見-近紅外分光光度計LAMBDA 1050+ 產品關鍵詞:近紅
美國Agilent Cary 60 紫外可見分光光度計 產品關鍵詞:a
LAMBDA 365紫外可見分光光度計 產品關鍵詞:365?紫外分光光
PerkinElmer LAMBDA 950 紫外分光光度計 產品關鍵
KSI－Nano型高分辨率表層缺陷超聲波掃描顯微鏡系統
聲學顯微成像系統和光學顯微成像系統的結合
- 換能器頻率范圍：100MHz——2000MHz頻率實現高分辨率
- 探測深度- 特殊平均模式使信噪比更好
- 同步光學成像和超聲波成像使樣品在結構上、生物化學性能上和機械性能上具有關聯性。
- 光聲效應增強了對比性
- 放大倍數：1000倍
- 入射光顯微鏡和倒置光學顯微鏡可調節
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