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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,生物產業,石油,制藥,綜合 |
從1953年至今，菲希爾公司不斷地在涂鍍層測厚、材料分析、微硬度測量和材料測試領域發展出創新型的測量技術。如今，菲希爾的測量技術已在世界各地得到應用，滿足客戶對儀器準確度、精度和可靠性的要求。目前，有超過10000臺X射線儀器投入使用，而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成為強大，可靠和耐用的X射線熒光測量設備的代名詞。
菲希爾X射線熒光分析法 (XRFA)：
能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境中，這一方法都能勝任，并還可以與現代化設備一起發揮作用。
菲希爾X射線熒光法（XRFA）的優點：
快速無損的鍍層厚度測量（單層或多鍍層）
分析固態，粉末或液態樣品
有害物痕量分析
高精度和準確度
十分廣泛的應用
準確測量基材是磁性和導電的材料
樣品制備非常簡單
測試方法安全，沒有使用危害環境的化學制品
無耗品，物超所值
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