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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM
fischerscope x-ray xul xym江蘇菲希爾
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環保,化工,石油,能源,電子/電池 |
菲希爾x射線測厚儀代理
X射線熒光分析法 (XRFA)：
能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統的厚度測量。無論是在實驗室還是工業生產環境中，這一方法都能*勝任，并還可以與現代化設備一起發揮作用。
X射線熒光法（XRFA）的優點：
快速無損的鍍層厚度測量（單層或多鍍層）
分析固態，粉末或液態樣品
有害物痕量分析
高精度和準確度
十分廣泛的應用
準確測量基材是磁性和導電的材料
樣品制備非常簡單
測試方法安全，沒有使用危害環境的化學制品
無耗品，物超所值
菲希爾xan215參數
| 設計用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF）， 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92），多可同時測定24種元素。 |
| 重復性 | 測量金元素時≤1‰，測量時間60秒 |
| 形式設計 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由下往上 |
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶鈹窗口的鎢靶射線管 |
| 高壓 | 三檔：30KV，40KV，50KV |
| 孔徑（準直器） | φ1mm；可選φ2mm |
| 測量點尺寸 | 當測量距離MD=0mm時，測量點直徑=孔徑直徑+200μm |
| X射線探測 | |
| X射線探測器 | 采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 （Mn元素Kα半高寬） | ≤180eV |
| 測量距離 | 0...10mm |
| 通過受保護的DCM測量距離補償法，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應用或者對測量精度要求較高的測量，可能需要進行額外的校準。 | |
| 樣品定位 | |
| 樣品放置 | 手動 |
| 視頻系統 | 高分辨率CCD彩色攝像頭，可沿著初級X射線光束方向，手動焦距，對被測位置進行監控 |
| 十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸），可調節亮度的LED照明 | |
| 圖像發達倍數 | 40x~160x |
| 工作臺 | |
| 形式設計 | 固定工作臺 |
| 樣品放置可用區域 | 310x320mm |
| 樣品大重量 | 13KG |
| 樣品高高度 | 90mm |
| 電氣參數 | |
| 電源要求 | AC 220V 50Hz |
| 功耗 | 大120W（不包括計算機） |
| 保護等級 | IP40 |
| 尺寸規格 | |
| 外部尺寸（寬x深x高） | 403x588x365mm |
| 重量 | 大約45KG |
| 環境要求 | |
| 使用時溫度 | 10℃~40℃ |
| 存儲或運輸時溫度 | 0℃~50℃ |
| 空氣相對濕度 | ≤95%，無結露 |
| 計算單元 | |
| 計算機 | Windows®-PC |
| 軟件 | 標準：Fischer WinFTM®BASIC 包含PDM®功能 |
| 可選：Fischer WinFTM® | |
| 執行標準 | |
| CE合格標準 | EN 61010 |
| X射線標準 | DIN ISO 3497 和ASTM B 568 |
| 形式批準 | |
| 符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規的規定 | |
無錫駿展儀器有限責任公司在以下領域具有*的優勢:
1. 為機械加工、*制造、新材料應用、科研等前沿產業提供更新的檢測設備和檢測技術;
2. 在產品質量控制和可靠性提升方面為客戶提供更有效的解決方案和技術服務;
3.為客戶提供車間、實驗室所需的各種檢測儀器，并提供技術支持、維護和維修服務。
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