18068309380
當前位置：無錫駿展儀器有限責任公司>>德國FISCHER菲希爾測厚儀>>菲希爾x熒光射線測厚儀>> FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM
fischerscope x-ray xul xym江蘇菲希爾
FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀
FISCHERSCOPEX-RAY XDV-µ菲希爾x射線測厚儀
FISCHERSCOPE XDV-µ的特點
同時測量從Al（13）到U（92）的多達24個元素，XDV-μLD:S（16）-U（92）
菲希爾x射線測厚儀*的多毛細管光學系統，可將X射線束聚焦到10μm（FWHM），用于微結構測量
菲希爾x射線測厚儀可編程XY工作臺和模式識別，用于多個樣品的自動測量
擴展樣品臺方便樣品的定位
向導式校準過程
穩健設計適合長期使用
光學顯微鏡（放大270倍），顯示圖像和激光定位點，可顯示精確的測量點
無需校準即可進行測量的基本參數分析
符合IPC-4552A、4553A、4554和4556，ASTM B568，ISO 3497標準
Fischer的認證標準片可追溯到基本單位
菲希爾XDV-µ應用
菲希爾XDV-µ微米和納米范圍內的Au/Pd/Ni/CuFe和Sn/Ni鍍層
組裝和未組裝電路板
納米范圍內的基底金屬化層（bump metallization，UBM）的測試
測量輕元素，例如 測量金和鈀下的磷含量（在ENEPIG和ENIG中）
銅柱上的無鉛焊料蓋
測試C4和較小焊點的元素組成，以及半導體行業中的小接觸面
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，化工儀器網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
化工儀器網