儀器核心特點(diǎn)

1. 廣泛的測(cè)量能力

• 通過(guò)高壓發(fā)生器與濾片組合，可覆蓋極薄（如50 nm金層）至較厚（如100 μm錫層）的鍍層測(cè)量需求，實(shí)現(xiàn)全范圍精準(zhǔn)測(cè)量。

• 比例計(jì)數(shù)器支持高達(dá)數(shù)千cps（每秒計(jì)數(shù)率）的高計(jì)數(shù)率，顯著提升檢測(cè)效率與數(shù)據(jù)穩(wěn)定性。

2. 高精度微區(qū)檢測(cè)

• 配備微聚焦X射線管，最小測(cè)量點(diǎn)可達(dá)100 μm，適用于接插件、微小觸點(diǎn)等精細(xì)結(jié)構(gòu)的鍍層分析。

• 部分型號(hào)支持自動(dòng)切換準(zhǔn)直器（如0.05×0.05 mm至Φ0.3 mm）和濾片，靈活適配不同應(yīng)用場(chǎng)景。

3. 人性化設(shè)計(jì)

• 射線方向從下至上，搭配底部C型開(kāi)槽的大容量測(cè)量艙，便于快速放置大尺寸樣品（如PCB板）或異形件。

• 可選配手動(dòng)XY工作臺(tái)或可編程平臺(tái)，輔助精確定位，并通過(guò)視頻窗口實(shí)時(shí)觀察測(cè)量位置。

4. 智能化與擴(kuò)展性

• 搭載薄膜FP法和塊體FP法軟件，支持含鉛合金、多層鍍層（如Ni/Cu/Au）等復(fù)雜結(jié)構(gòu)的分析。

• 部分機(jī)型集成半導(dǎo)體探測(cè)器與比例計(jì)數(shù)器，兼顧高信噪比薄層測(cè)量與高計(jì)數(shù)率厚層檢測(cè)。

典型應(yīng)用領(lǐng)域

1. 電子與半導(dǎo)體行業(yè)

• 線路板鍍層：精確測(cè)量Au/Ni/Cu/PCB、Sn/Cu/PCB等多層結(jié)構(gòu)，避免Br元素干擾。

• 接插件與觸點(diǎn)：分析微小觸點(diǎn)上的Au/Ni/CuSn6等鍍層，確保導(dǎo)電性與耐腐蝕性。

2. 汽車與工業(yè)制造

• 防腐鍍層：檢測(cè)螺栓、螺母等大批量零件的Zn/Fe、ZnNi/Fe鍍層厚度，保障防銹性能。

• 裝飾性鍍層：如Cr/Ni/Cu/ABS塑料件的表面處理質(zhì)量控制。

3. 珠寶與鐘表行業(yè)

• 無(wú)損檢測(cè)貴金屬鍍層（如金、銀、鉑）的厚度與成分，滿足首飾成色鑒定需求。

4. 電鍍工藝監(jiān)控

• 實(shí)時(shí)分析電鍍液中的金屬成分含量，優(yōu)化鍍液配比與工藝參數(shù)。

5. 科研與新材料開(kāi)發(fā)

• 支持納米級(jí)超薄鍍層（如80 nm金層）的精準(zhǔn)測(cè)量，助力半導(dǎo)體、光電子等領(lǐng)域研發(fā)。