產品描述

年053410分光測色儀是一款采用第8天(漫射照明，8°方向接收，美國科學院包括鏡面反射光）標準測色儀，測試探頭與被測樣品非接觸測試，實現液體、醬料、粉末等非接觸式精密測色。

非接觸式分光光度計的特點

256像素雙陣列金屬氧化物半導體圖像傳感器

更高的光學分辨率保證了儀器的測量速度、精度、穩定性和一致性，掌握了核心技術，實現了與國際標準同平臺兼容。

采用全光譜發光二極管光源

全光譜發光二極管光源保證了可見光范圍內足夠的光譜分布，避免了特定波段發光二極管光譜的缺失，保證了儀器測量結果的準確性和低成本的維護。

凹面光柵光譜技術

采用凹面光柵光譜技術，分辨率更高，測色更準確。更高品質

采用工業級實時處理微控制器支持藍牙5傳輸更穩定可靠。

多色測量空間和觀察光源

提供CIE LAB、XYZ、Yxy、LCh、CIE LUV、Musell、s-RGB、HunterLab、βxy、DIN Lab99色彩空間，以及D65、A、C、D50、D55、D75、F1、F2（CWF）、F3、F4、F5、F6、F7（DLF）、F8、F9、F10（TPL5）、F11（TL84）、F12（TL83/U30）多種觀察光源，可滿足不同測量條件下的特殊測量要求。

高效的

一個完整的測量周期僅需200毫秒，每天可測量超過400,000個樣本。

技術參數

模型年053410

光學幾何第8天(漫射照明，8°方向接收，美國科學院包括鏡面反射光）；

符合標準CIE 15號、GB/T 3978、GB 2893、GB/T 18833、ISO7724-1、ASTM E1164、DIN5033 Teil7、GB 2892、GB/T 1883

特征 測試探頭與被測樣品非接觸測試，實現液體、醬料、粉末等非接觸式測色，主要用于自動化生產線的測色和質量控制；測量時間0.2-1.5秒可調，軟件功能可定制（附加定制功能需評估）。

光源 全光譜發光二極管光源、紫外線光源

分光光度模式 凹面光柵

傳感器256像素雙陣列金屬氧化物半導體圖像傳感器

波長范圍400~700nm，10nm輸出

測得的反射率范圍 0-200%

測量孔徑Φ20mm(可定制Φ10mm）

非接觸距離3毫米 (±0.2 毫米)

樣品高度 無限厚度，僅使用測試探針

距離調整方法 根據實際樣品固定高度

測量模式 軟件定制功能（額外的定制功能需要評估）

定位 攝像頭定位

色彩空間CIE實驗室，XYZ，Yxy，LCh，CIE LUV，Musell，s-RGB，HunterLab，βxy，DIN實驗室99

色差公式ΔE*ab、ΔE*94、ΔE*cmc（2:1）、ΔE**cmc（1:1）、ΔE*00、ΔE(亨特），DINΔE99

其他比色指數WI（ASTM E313、CIE/ISO、AATCC、Hunter）

易（ASTM D1925、ASTM 313），

同色異譜指數 慣性矩，

染色牢度、色牢度、強力、遮蓋力

觀察者角度 2°/10°

光源D65、A、C、D50、D55、D75、F1、F2（CWF）、F3、F4、F5、F6、F7（DLF）、F8、F9、F10（TPL5）、F11（TL84）、F12（TL83/U30）

顯示數據 光譜圖/值、樣本色度值、色差值/圖表、顏色模擬、通過/失敗結果、顯示公差可設置

測量時間 快0.2秒

數據存儲 樣品模式+質控模式 18,000

連續統計模式30000條，合計不超過48000條

重復性在佳測量模式下（當單個測量時間為1.5秒時）：

光譜反射率：標準偏差的0.1%以內：

色度值：ΔE*ab在0.03范圍內（儀器預熱和校準后，每隔5s測量白板的平均值30次）

ΔE*ab 0.2范圍內的儀器間誤差（BCRA系列Ⅱ的12個瓦片的測量平均值）

測量方法單次測量，平均測量（2~99次）

尺寸200*200*160mm（測試探頭）

重量約3Kg（僅測試探頭）

電源AC 24V，3A電源適配器電源

光源壽命5年，超過300萬次測量

顯示7英寸TFT彩色LCD，電容式觸摸屏

數據端口USB，Bluetooth®5.0

語言簡體中文、繁體中文、英語

工作環境0～40℃，0～85%RH(無凝露），海拔高度：小于2000米

儲存環境-20～50℃，0～85%相對濕度(無結露）

標準配件 電源適配器、說明書、數據線、標準校準板、黑色校準盒

筆記 此機型特別適用于流線型生產線，深度功能定制會產生額外的定制成本