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Vasco Kin原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
l 粒度測量范圍 : 0.5nm 到 10µm
l 背向動(dòng)態(tài)光散射原理，實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程非接觸測量
l 監(jiān)測納米顆粒合成過程；監(jiān)測整個(gè)過程的粒度變化情況，有助于穩(wěn)定性研究
l 全自動(dòng)非接觸測量：能穿透玻璃和塑料針管，測定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布和隨時(shí)間的變化
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
Vasco Kin原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀
l 粒度測量范圍 : 0.5nm 到 10µm
l 背向動(dòng)態(tài)光散射原理，實(shí)時(shí)遠(yuǎn)程非接觸測量
l 監(jiān)測納米顆粒合成過程；監(jiān)測整個(gè)過程的粒度變化情況，有助于穩(wěn)定性研究
l 全自動(dòng)非接觸測量：能穿透玻璃和塑料針管，測定包裝物及反應(yīng)釜中的粒度分布和隨時(shí)間的變化
l 適用樣品濃度：0.1ppm-40%（w/v）
l 時(shí)間分辨: DLS的分辨率為0.2s，用于動(dòng)力學(xué)監(jiān)測
l 隨時(shí)間變化的粒度分布彩色地形圖
l “時(shí)間切片"功能：用戶對測試后數(shù)據(jù)可進(jìn)行任意時(shí)間段內(nèi)的粒度分析
l 樣品前處理：無需樣品前處理，直接測試
原位時(shí)間分辨納米粒度分析儀