目錄:沈陽科晶自動化設備有限公司>>薄膜生長設備>>薄膜生長輔助設備>> M-3手持式四探針電阻率測試儀
| 價格區間 | 面議 | 應用領域 | 綜合 |
|---|---|---|---|
| 自動化度 | 手動 |
操作視頻
產品型號 | M-3手持式四探針電阻率測試儀 | ||||||
主要特點 | 1、測試儀由M-3型主機和四探針探頭兩部分組成 2、手持式設計,帶完善厚度、形狀修正功能,測試精準 3、寬量程:超寬五個檔位,相當于中檔臺式機的量程 4、操作簡便、性能穩定:輕觸數字化鍵盤實現參數設定、功能轉換,LED數字表頭顯示 5、多款探頭可選,適用于各種不同材料的導電性能測試 | ||||||
技術參數 | M-3手持式四探針電阻率測試儀1、工作電源 208-240V,50/60Hz;電池供電:DC3.7V 2、測量范圍、分辨率 電阻:0.010～50.00kΩ 分辨率:0.001～10 Ω 電阻率:0.010～20.00kΩ-cm 分辨率:0.001～10 Ω-cm 方塊電阻:0.050～100.00kΩ/m2 分辨率0.001～10Ω/m2 3、基本誤差:±1%FSB±2LSB 4、外形尺寸:210mm L × 100mm W × 36mm H 5、凈重:0.3kg | ||||||
可選配件 | 1探頭 根據不同材料特性需要,探頭可有多款選配 碳化鎢探針探頭(固體材料):測試硅等半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料(詳見圖1);球形或平頭鍍金銅合金探針探頭(薄膜):可測金屬箔、碳紙等導電薄膜,也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導電涂層膜,如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層(詳見圖2);探頭頭部安裝有平衡基座避免人手操作的誤差(詳見圖3)。
2、可選配快速恒壓四探針測試臺,對測試壓力進行調節保證恒壓測試,提高測試的精確度 |
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