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光學顯微鏡在地質分析中的應用

閱讀:619        發布時間:2023-4-20

光學顯微鏡在地質分析已成為常規研究技術之一,其優勢首先在于光學檢測的無損性,對樣品的分析提供安全保障;其次是大距離景深,可以更清晰的觀測微區形貌;第三是微區形貌的3D建模和測量功能,可對微區物理結構特征進行量化表征。

 

偏光顯微鏡的作用及基礎認識

1、單偏光下的晶體特性

 

38.png

 

  • 礦物突起

  • 礦物糙面

  • 礦物形態

  • 解理

  • 礦物顏色

  • 晶體的多色性與吸收性

 

2、正交偏光下的晶體特性

 

39.png

 

  • 礦物雙晶的觀察

  • 礦片消光類型及消光角的測定

  • 干涉色

  • 礦物延性符號的測定

 

3、錐光鏡下的晶體特性

 

40.png

 

  • 確定一軸晶還是二軸晶

  • 測定光性符號

  • 測量光軸角的大小


部分巖石樣品成像效果

 

image.png

 

 

云母類相關樣品顯微鏡下成像效果

 

image.png

 

偏光顯微鏡也有許多配置可供選擇,比如:顯微鏡熱臺、陰極發光儀、分光光度計等多樣化應用配置需求,滿足不同類型研究者的需求



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