電解測厚儀COULOSCOPE CMS2菲希爾代理*

COULOSCOPE CMS2電解測厚儀過電解去除層來測量涂層厚度。特別地，庫侖法可以用于地確定任何種類的基底上的多層。部署CSM2 STEP版本，用于單層標準的STEP測試測量，并檢測潛在的差異，例如在鎳多層質量控制中。

COULOSCOPE CMS 測量原理：

測量原理 這個系列儀器根據 DIN EN ISO 2177 標準的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件 下電解腐蝕--------實際上就是電鍍的反過程。所載入的電 流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面 積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關系。 
  測量印刷線路板上剩余純錫的厚度 
下面的公式適用于通過庫侖法電解腐蝕確定鍍層厚度： 
d:   
鍍層厚度 [µm] 
eÄ: 
電化學當量 [g/As] 
I:    
電解電流 [A] γ:    電解效率
 t:    電解時間 [s] A:   電解面積 [cm2] ρ:   電解鍍層材料密度 [g/cm3] 
測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層。 測量 面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬 采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制， 用一 個泵攪拌電解液來使電解區域電解液平穩腐蝕，保證電 解液*利用。 根據測量區域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。 

電解測厚儀COULOSCOPE CMS2菲希爾代理*

Couloscope CMS2特征：

• 大尺寸高分辨率的彩色顯示器
• 簡單的操作和圖示的用戶指導
• 使用V18支架實現半自動化測量
• 電解速度和測量面積的簡單選擇                                             （0.1 ----- 50 μm/min） 和（0.6 ----- 3.2 mm Ø）
• 電壓曲線圖形顯示
• 圖形和統計分析
• 多語言和計量單位可供選擇

應用：
金屬和非金屬基材上的任何金屬涂層
單層和多層涂層厚度測量
特別適用于通過STEP Test測量鎳多層
適用于0.05μm至40μm的涂層厚度 

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