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場發射掃描電子顯微鏡廠家告訴你，場發射掃描電子顯微鏡的基本構造分析
閱讀：1072 發布時間：2021-11-23
電子顯微鏡是利用電子束成像的顯微系統，它具有分辨率高，景深大，擴展性強等優點，已經成為研究微觀世界的重要手段之一。電子顯微鏡廣泛的應用于生物農林領域，它可以觀察農作物的根、莖、葉、種子等的表面形貌，也可以觀察細胞、組織等的內部超微結構，還可以進行元素分析。借助強大的擴展附件，電子顯微鏡還具有光電聯用、三維解析等功能。
場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。
場發射掃描電子顯微鏡的基本構造：
場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）是電子顯微鏡的一種，廣泛用于生物學、醫學、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質礦物、商品檢驗、產品生產質量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析。可以觀察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。
場發射掃描電子顯微鏡的基本構造：
電子槍：也稱電子源，產生連續不斷的穩定的電子流。場發射電子槍與普通鎢絲電子槍有所不同，陰極呈桿狀，在它的一端有個極鋒利的尖點（直徑小于100nm），尖端的電場*，電子直接依靠“隧道”穿過勢壘離開陰極，由加速電壓加速產生高速電子流飛向樣品。一般來說，掃描電鏡加速電壓通常為1-30kV。
電子透鏡：將從電子槍發射出來的電子匯聚成直徑最小為1-5nm電子束。
掃描系統：使電子束作光柵掃描運動。