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啟航檢測科技(上海)有限公司
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當前位置:啟航檢測科技(上海)有限公司>>無損檢測設備>>雙晶探頭>> 2.5P20FG5雙晶直探頭

2.5P20FG5雙晶直探頭

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號

品       牌其他品牌

廠商性質代理商

所  在  地上海市

更新時間:2025-02-20 10:25:10瀏覽次數:92次

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產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 能源,冶金,航天,汽車,綜合
2.5P20FG5雙晶直探頭|美國GE雙晶探頭|啟航檢測科技(上海)有限公司全國*

2.5P20FG5雙晶直探頭|美國GE雙晶探頭|啟航檢測科技(上海)有限公司全國*





選型:

以下3種機型都可選擇LEMO 01或BNC探頭接口,儀器基本配置包括主機、鋰電池、外置電源、SD卡、說明書、儀器箱。主要功能區別如下:

USM36     一款基本型超聲波探傷儀

USM36 DAC 包含DAC/TCG、AWS、SWP

USM36 S    包含DAC/TCG, AWS, SWP, DGS, PPRF, BEA, 3G

低配的USM36可選配功能:


AWS

AWS校正工具,根據AWS D1.1結構焊道碼

DAC

JISDAC

CNDAC DAC

校正工具,16點,根據EN1712,EN 1713,EN 1714,ASTME164,ASME,ASME III,JIS Z3060,GB11345 TCG: 120 dB動態,110 dB/μs斜率

DGS

DGS校正工具,根據EN 1712, EN1713,EN 1714, ASTM E164

數據紀錄器

網格文件格式

3G

增加第3個監視閘-監視閘C

SWP

方波脈沖產生器 為優化脈沖發射器的參數,電壓設定在120~300V,每一刻度為10V,脈沖寬度設定為30~500 ns,每一刻度為10 ns

Phantom-PRF

幻影回波-脈波反復率用于識別在低衰減材料中多反射引起的錯誤回波

BEA

背面回波衰減器





產品描述

斜探頭, 雙晶 (TR)雙晶斜探頭

2.5P20FG5雙晶直探頭


應用

•   VS 橫波型

 檢測小的近表缺陷

 薄壁管和容器

 環件

•   VRY VSY 縱波型

 粗晶粒焊縫檢測

 衰減材料

 奧氏體焊縫

–   0°型號應用于"爬波"

 

性能特征

•   **的近表分辨率

•   散射噪聲小

•   模鑄外殼耐用,符合人機工程學

•   VS  VSY Microdot 連接口,側裝

•   VRY Lemo 00 連接口

帶塑料楔的TR斜探頭

主要特性:

·單獨的發射和接收相傾斜,產生一個聚焦區域,提高缺陷探測能力

·VS..類型探頭進行橫波斜掃描

·粗晶探頭VRY..和VSY..進行縱波斜掃描

·當測試強聲波散射特性材料時,短脈沖粗晶探頭可以獲得很高信噪比

·外殼堅固實用

主要用途:

通 常 : 近 表 面 或 者 確 定 區 域 小 缺 陷 檢 測 和 評 估 , 這 些 位 置 是 TR探頭不能靠近的區域,還有那些與表面垂直或成一定角度的 缺陷。

VS..: 光滑或輕微粗糙表面小型或大物體的檢測,對橫波衰減效應弱 的材料(如非合金或低合金細晶粒鋼)。例如,它們用于探測 小支架上的徑向裂縫、薄壁容器內部的腐蝕性裂縫,還有以直 接掃描模式熱交換管道中的橫向裂縫。這意味著從被測物體的 后壁沒有聲波束的反射。

VRY..: 用于測試那些聲波散射特性強而不能用橫波測試的中大型尺寸 的厚壁物體(如奧氏體鋼制成的容器、化工和能源廠的奧氏體 焊接件)。用于低碳鋼檢測的爬波由70°探頭產生。 

VSY..: 用于那些不能用橫波檢測以及其形狀需要小型探頭檢測的中小 型尺寸物體的測試。例如,它們被證明可以很好地檢測復雜形 狀零件焊縫。用于低碳鋼檢測的爬波由70°探頭產生。

2.5P20FG5雙晶直探頭


 

用TR斜探頭VS45測試焊點

的貫通性

用TR斜探頭VS60檢測

鋁環內部的縱向裂縫

用斜探頭VRY60檢測奧氏

體管道焊縫檢測

用斜探頭VSY45和VSY70進

行泵架的焊縫檢測

用于縱波或橫波的帶組合塑料楔的TR斜探頭

2.5P20FG5雙晶直探頭


 

斜探頭, 雙晶 (TR)

2.5P20FG5雙晶直探頭


2.5P20FG5雙晶直探頭


典型波形與頻譜

探頭規格型號

類型

a x b(mm)a x b(in)

頻率MHz

?角度

F(mm)

F(in)

VS45

3.5 x 10

.14 x .39

4

45

10

0.4

VS45-EN

3.5 x 10

.14 x .39

4

45

10

0.4

VS60

3.5 x 10

.14 x .39

4

60

10

0.4

VS60-EN

3.5 x 10

.14 x .39

4

60

10

0.4

VS70

3.5 x 10

.14 x .39

4

70

10

0.4

VS70-EN

3.5 x 10

.14 x .39

4

70

10

0.4


VRY45

10 x 22

.39 x .87

1.8

45

40

1.6

VRY60

10 x 22

.39 x .87

1.8

60

35

1.4

VRY70

10 x 22

.39 x .87

1.8

70

35

1.4

VSY45-2

5 x 10

.20 x .39

2

45

16

0.6

VSY60-2

5 x 10

.20 x .40

2

60

16

0.6

VSY70-2

5 x 10

.20 x .41

2

70

16

0.6

VSY45-4

5 x 10

.20 x .42

4

45

20

0.8

VSY60-4

5 x 10

.20 x .43

4

60

20

0.8

VSY70-4

5 x 10

.20 x .44

4

70

20

0.8

特性:非常好的近場分辨率

1)  速率3255  m/s(橫波)和5750m/s(縱波) 根據用戶需要提供其它頻率、單元尺寸或設計的探頭

*)  用于無衰減材料時規定的工作范圍上限。實際上,如果頻率增加,則上限急劇降低。

可定制特殊規格

附件

描述

類型

備注

電纜線

SEKM2 

用于VS

電纜線

SEKL2 

用于VRY

電纜線

SEKN2 

用于VSY



SWB70-2美國GE/SWB70-2斜探頭|貝克休斯SWB70-2斜探頭由啟航檢測科技(上海)有限公司優惠價供應美國GE/SWB70-2斜探頭

用于大尺寸、厚部件的焊縫檢測,如管、儲罐、壓力容器、輪軸、鍛件、鑄件、橋梁及其他結構件、鐵路路軌及車輪

SWB、SWK型探頭尺寸適合手工檢測,有良好的近場分辨力和窄脈沖寬度,是檢測小部件通用工具,也能夠檢測大尺寸物體

SWB系列:

晶片尺寸:14mmX14mm帶寬:30-60接口類型:Lemo 01

角度

1MHz

2MHz

4MHz

35°

SWB35-1

SWB35-2

SWB35-5

35°

SWB35-O2



45°

SWB45-1

SWB45-2

SWB45-5

45°

SWB45-O2

SWB45-O5


60°

SWB45-2-EN



60°

SWB60-1

SWB60-2

SWB60-5

70°

SWB60-O2

SWB60-O5


70°

SWB60-2-EN



80°

SWB70-2

SWB70-5


90°

SWB70-O2



35°

SWB70-2-EN



45°

SWB80-1

SWB80-2

SWB80-5

SWB90-1




晶片尺寸:14mmX14mm帶寬:60-80接口類型:

角度

1MHz

2MHz

5MHz

35°

SWK70-1

SWK35-2


45°

-

SWK45-2

SWK45-5

60°

-

SWK60-2

SWK60-5

70°

-

SWK70-2

SWK


型號說明:

-EN表示探頭有DINEN12668-2證書,如WB35-2-EN。

MWB90-O4

2MHz

35

MWB35-4

MWB35-2-EN

35

MWB35-O4

MWB35-O2-EN

45

MWB45-4

MWB45-2-EN

45

MWB45-O4

MWB45-O2-EN

60

MWB60-4

MWB60-2-EN

60

MWB60-O4

MWB60-O2-EN

70

MWB70-4

MWB70-2-EN

70

MWB70-O4

MWB70-O2-EN

80

MWB80-4


80

MWB80-O4


90

MWB90-4

MWB90-O2





一個探頭殼體內裝有兩個晶片的探頭我們稱之為雙晶探頭,又稱分割式探頭。由兩個縱波晶片組合成的雙晶探頭稱為縱波雙晶探頭,又稱雙晶直探頭;由兩個橫波晶片組成的雙晶探頭稱為橫波雙晶探頭,又稱雙晶斜探頭。

這兩種雙晶探頭中,雙晶直探頭的應用較為廣泛。雙晶直探頭的兩個縱波晶片一個用于發射超聲,一個用于接收超聲。發射壓電晶片大都采用發射性能好的鋯鈦酸鉛,接收壓電晶片大都采用接收性能好的硫酸鋰。(見下圖)

區別于單晶探頭而言,雙晶探頭的發射靈敏度和接收靈敏度都更高。雙晶探頭的兩個晶片之間有一片吸聲性強、絕緣性好的隔聲層,它不僅用于克服發射聲束與反射聲束的相互干擾和阻塞,而且能使脈沖變窄、分辨率提高、消除發射晶片和延遲塊之間的反射雜波進入接收晶片,有效減少雜波。

由于雙晶探頭的發射部分和接收部分都帶有延遲塊,能使探傷盲區大幅減小,故雙晶探頭對表面缺陷的探傷十分有利。

2.5P20FG5雙晶直探頭

正確選擇雙晶探頭

1、探頭頻率的選擇

超聲的發射頻率在很大程度上決定了超聲波探傷的檢測能力。頻率高時,波長短,聲束指向性好,擴散角較小,能量集中,因而發現小缺陷的能力則比較強、分辨力好、缺陷定位準確。但高頻率超聲在材料中衰減較大,穿透能力較差,反之亦然。由于雙晶探頭適用于較薄工件的探傷,不需要較強的穿透力。因此可以采用較高頻率的探頭。對于鍛件,板材,棒材等晶粒細小的工件,可以采用5MHz的雙晶探頭(若被檢工件表面較粗糙,高頻超聲散射較大,不易射入,則容易出現林狀回波)。對于晶粒粗大,超聲散射嚴重的材料,如奧斯體不銹鋼和鑄造件等,頻率高時,也會出現晶界引起的林狀回波,致使無法探傷,對于這一類材料,建議選用1MHz—2.5MHz的低頻率雙晶探頭。

2、晶片尺寸的選擇從以上介紹的雙晶探頭的工作原理來看,雙晶探頭探傷主要取決于雙晶探頭的聲能集中區,跟晶片的大小沒有直接的關系。雙晶探頭的晶片大小,只與工件探測面積的大小有關,當檢測面積大時,為了提高探傷效率,宜采用晶片尺寸較大的探頭。當檢測面積較小,或者檢測面帶有一定曲率的情況下,為了減少耦合損失宜用晶片尺寸小的探頭。

3、焦距的選擇雙晶探頭的兩個晶片都有一定的傾斜角度。發射聲束與接收聲束必然會產生相交,形成棱形的區域,此區域即為探傷區域。菱形區愈長,焦距愈大,探測深度愈深,適合厚工件的探傷檢驗,菱形區愈短,焦距愈小,探測深度愈淺,適合薄工件的探傷。處于棱形區的缺陷,其反射信號強,同時對于同樣大小的缺陷,位于棱形區中心時,反射信號。因此在實際探傷過程中,要根據被檢工件的厚度選取適當的焦距。焦距越小,則對薄工件的探傷越有利。一般來說,選擇雙晶探頭的焦距小于被檢工件厚度5—10mm左右。雙晶探頭的探傷靈敏度先隨缺陷的深度增加而增高,到達最大值后又隨深度增加而下降田,這種探傷靈敏度的變化是雙晶探頭的特點。

雙晶直探頭板材檢測

1、探頭的選擇

板厚≤60mm厚的鋼板可選用雙晶直探頭,探傷的目的就是掃查出缺陷在整個厚度范圍內的位置以及在板面上的分布,根據缺陷大小,依據標準判定其合格與否。由于鋼板缺陷的富集區一般在鋼板中心部位,其次是板厚的1/4和3/4處,所以探頭的選擇和靈敏度的調整,必須考慮鋼板中心部位應有較高的檢出能力,且其他部位不漏檢。例如檢測20mm規格鋼板,缺陷在10mm處易出現,選擇焦距F10探頭,以20mm大平底調整靈敏度,既能保證10mm位置處較高的檢測靈敏度,又能保證3和20mm位置有基本相同的靈敏度;同樣對于10mm鋼板,選擇焦距F5探頭,以10mm大平底調整靈敏度,保證了5mm位置處較高的檢測能力,又能保證3和10mm位置的靈敏度基本相同,所以,為保證鋼板檢測質量,理想的雙晶探頭焦距應等于鋼板厚度的一半。

2、掃查方式

NB/T47013-2015規定的掃查方式見下圖

 

1)鋼板邊緣或坡口預定線兩側(50、75、100)100%掃查; 2)中心部分間距不大于50mm平行線或間距不大于100mm的格子線掃查。

3)雙晶直探頭掃查時,探頭的移動方向應與探頭隔聲層相垂直。

3、缺陷性質估計

分層:缺陷波形陡直,底波明顯下降或消失;

折疊:不一定有缺陷波,但底波明顯下降,次數減少甚至消失,始波加寬;

白點:波形密集尖銳活躍,底波明顯下降,次數減少,重復性差,移動探頭,回波此起彼伏。

系列

型號

頻率

(MHz)

焦距

(mm)

單晶片尺寸

(mm)

外觀尺寸

帶寬

接口類型

接口方向

SEB

SEB 1

1

20

Φ21半圓

類型15

40

雙聯

Lemo 00

側裝

SEB 1-EN

1

20

SEB 2

2

15

7x18

SEB 2-EN

2

15

SEB 2-0°

2

30

SEB 2-EN-0°

2

30

SEB 4

4

12

6x20

SEB 4-EN

4

12

SEB 4-0°

4

25

SEB 4-EN-0°

4

25

MSEB

MSEB 2

2

8

Φ11半圓

類型16

40

MSEB 2-EN

2

8

MSEB 4

4

10

3.5x10

MSEB 4-EN

4

10

MSEB 4-EN-0°

4

18

MSEB 4-0°

4

18

MSEB 5

5

10

Φ9半圓

SEB KF

SEB 2 KF 5

2

6

Φ8半圓

類型17

30-60

Microdot

 X2

SEB 4 KF 8

4

6

SEB 4 KF 8-EN

4

6

SEB 5 KF 3

5

3

SEB 10 KF 3

10

3

Φ5半圓

類型18

SEB 10 KF 3-EN



特性

獨立的聲波發射和接收單元

縱波垂直傳輸

小焦距探頭具有非常好的近場分辨率

使用耐磨的塑料延遲塊,即使在粗糙或彎曲的表面也能很好耦合性

延遲塊由一個金屬環保護以防磨損

在焦點內特別適合剩余壁厚的測量

加上特殊的延遲塊(定制產品)能夠在高溫表面測量

應用

近表面的小缺陷探測和評估

焦點內大缺陷以及平行于表面分布的缺陷檢測

腐蝕、銹蝕剩余壁厚的測量(包括高溫情況下測量)

粘結檢測

螺釘,螺栓,銷釘

覆層和堆焊層

軸,桿,方坯芯檢測

粗晶材料

火車車輪

啟航檢測科技(上海)有限公司是一家專業從事無損檢測設備代理的公司,主營超聲波檢測設備及探頭、超聲波相控陣、超聲TOFD探傷儀、超聲波相控陣探頭以及數字成像平板等*設備,品牌有奧林巴斯NDT、美國磁通、美國sherwen、汕超、新美達、美國GE等多家產品。長期以來,公司堅持走科技創新之路,不斷拓展產品線及產品技術,加大應用技術人員投入。

 

公司提供的無損檢測儀器設備包括工業X光機、工業CTCRDR、工業洗片機、超聲波探傷儀、超聲波相控陣、超聲波測厚儀、超聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無損檢測解決方案、渦流陣列探傷儀、超聲導波、超聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機、著色滲透劑、熒光滲透線、工業內窺鏡、大型復合材料超聲波自動化檢測系統、大型超聲波板材檢測系統、大型超聲波管材檢測系統、大型壓力容器超聲波檢測系統、汽車點焊超聲波成像分析儀和其它實驗室儀器。

超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀、膠片、探傷劑、耦合劑、試塊、洗片槽、膠片機、黑光燈、紫外線燈、相控陣探頭、單晶直探頭、雙晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶斜探頭、水浸探頭、保護膜探頭、表面波探頭、絕緣子超聲波探頭、爬坡探頭、TOFD探頭、楔塊探頭、楔塊、導波探頭、磁性探頭、單晶連接線、雙晶連接線、反差增強劑、密度計、觀片燈、洗片夾、拉環磁鋼、鉛字、射線機、射線燈、個人劑量報警儀、輻射儀、環境輻射儀、黑油磁懸液、黑水磁懸液、紅油磁懸液、紅水磁懸液、紅磁膏、黑磁膏、紅磁粉、黑磁粉、噴壺、提升力試塊、梨形測定管、直型測定管、消泡劑、防銹劑、分散劑、磁場強度計、白光照度計、紫外照度計、暗室紅燈、三色燈、顯影粉、定影粉、顯影液、定影液、暗袋、增感屏、防護背心、鉛衣、像質計、無損檢測配件、

長期以來,依托高素質的技術人員和銷售隊伍,本著誠信守法,客戶的經營原則,以良好的信譽、豐富的經驗、周到的服務,為客戶提供了的檢測設備及技術解決方案,贏得了國內外廣大用戶的信賴和好評。我們提供的設備、系統及方案應用于中國的各種工業領域,特別應用于航空航天、汽車制造、石油化工、船舶制造、冶金、鐵路、核工業及電力、特檢、高校及研究機構等。

 

良好信譽 – 啟航檢測科技作為無損檢測行業的,依托高素質團隊及誠信周到的服務,得到了客戶的一致贊同。

 

豐富經驗 – 啟航檢測科技的銷售人員及技術人員大部分都擁有本科及以上學歷,在無損檢測行業有著多年的經驗及專業知識。

 

高效服務 – 啟航檢測科技總部位于上海,全國主要城市設立分支機構。任何時間和地點,隨時準備好為您提供及時可靠的服務。

 

解決方案 – 啟航檢測科技依托高素質的技術團及專業的本地化服務,我們隨時為您提供及時全面的無損檢測解決方案。





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