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產品介紹：
SEM原位冷熱臺是一種在掃描電子顯微鏡（SEM）標準樣品臺上（無需改造電鏡內部），提供樣品原位變溫測試的電鏡附件。通過外接法蘭裝置實現對冷熱臺上的樣品進行控溫，穩定后溫控精度最高可達±0.1℃ 可實現樣品變溫測試的溫度范圍：-185~50℃ / -185~200℃，滿足原位高低溫材料相變微觀表征。SEM原位冷熱臺適合于各種樣品在掃描電子顯微鏡中進行高低溫結構研究，固定在現有樣品臺上。支持在現有各種掃描電子顯微鏡（蔡司、日立等）適配。

產品特點：

電熱、液氮可實現快速升降溫

可增加試樣溫度監測溫度傳感器

溫控精度高±0.1℃，可編程階梯控溫

溫控范圍寬（-185~50℃ / -185~200℃）

可以在較大的電子束流下獲得高質量圖像

可適配SEM定制樣品架，安裝/拆卸過程簡單

制冷完成測試后可快速（60℃/min）升溫達到室溫，正常更換樣品，測試效率高。

常溫下的鎵樣品


-185℃下的鎵樣品