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　　LRT-P1半導體冷熱臺采用半導體致冷，配合低溫循環液，實現從-40到180℃的控溫。

　　結構緊湊，適用于各種變溫測試

　　Z大溫度范圍-40~180℃（選型）

　　氣密腔室設計，可通保護氣體

　　多探針測試

　　上位機軟件控制

　　支持改動或定制

　　溫控特性：

　　1. 溫度范圍：

　　下限溫度（選型）：A. -30  B. -40

　　上限溫度（選型）：A. 120  B. 180

　　2. 控溫速度：0~10℃/min

　　3. 溫度分辨率：0.1℃

　　4. 溫度穩定性：±0.1℃

　　5. 溫度控制：高精度PID控制

　　6. 載樣臺材質：銅

　　7. 溫度傳感器：PT100

　　8. 冷卻方式：低溫循環液

　　光學特性：

　　1. 光路：反射光路

　　2. 視窗：可拆卸更換，可用不同材質玻璃實現不同波段光觀察

　　3. Z小物鏡工作距離：12.0mm

　　4. 上蓋視窗：φ25mm

　　結構特性：

　　1. 樣品臺面尺寸：40x40mm（以實際尺寸為準）

　　2. 樣品腔高度：9.0mm（載樣臺上部空間高度）

　　3. 放樣：移除上蓋后放置樣品，固定探針

　　4. 氣氛控制：默認氣密腔室，通過2個快速自鎖接頭，充入保護氣氛

　　*可升級為真空腔室，10-3mBar

　　5. 安裝固定：水平安裝

　　6. 臺體尺寸：150x150x36mm

　　電學特性：

　　1. 探針：4個固定式探針（紫銅鍍金）

　　2. 探針接口：默認為BNC接頭

　　*可升級為同軸BNC

　　3. 樣品臺面電位：默認電懸空，可選電接地

　　LRT-P1半導體冷熱臺配置清單：

　　基本配置：

　　LRT-P1冷熱臺 x1   高低溫控制器 x1   低溫冷卻循環機 x1   溫控軟件 x1

　　選配：

　　電腦主機/安裝支架/測試源表/同軸BNC/真空系統/濕度控制系統/定制控制軟件