Anritsu無(wú)線電綜測(cè)儀無(wú)反應(yīng)維修對(duì)策 如果未應(yīng)用GND，則大多數(shù)接地線會(huì)很長(zhǎng)，以至于電路無(wú)法根據(jù)設(shè)計(jì)提供特性，，其他模擬電路上天線的輻射干擾在無(wú)線電綜合測(cè)試儀布局設(shè)計(jì)中，板上還可以使用其他模擬電路，例如，許多電路包含模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)或數(shù)模轉(zhuǎn)換器(DAC)。 在這些情況下，您沒(méi)有OCM的保證，因此您進(jìn)行自己的信譽(yù)研究，公司的聲譽(yù)和客戶的將使您對(duì)他們的信譽(yù)度有所了解，另外，請(qǐng)檢查他們擁有什么認(rèn)證以及他們遵循什么標(biāo)準(zhǔn)，例如，IS02008指導(dǎo)質(zhì)量管理，與獨(dú)立分銷商合作時(shí)。無(wú)線電綜測(cè)儀電源問(wèn)題可能發(fā)生在初級(jí)或次級(jí)部分。即使任何無(wú)線電綜測(cè)儀電路的遠(yuǎn)部分出現(xiàn)一些問(wèn)題，例如監(jiān)視器彩色電路板中的 ic 或晶體管短路，電源也可能無(wú)法工作或只是閃爍。有多種排除無(wú)線電綜測(cè)儀電源故障的方法；我將解釋我的修復(fù)方法之一。每當(dāng)電源送修時(shí)，無(wú)論是顯示器開(kāi)關(guān)電源還是計(jì)算機(jī)Atx電源，我都會(huì)在打開(kāi)外殼之前先測(cè)試電源。電源問(wèn)題可分為無(wú)電、輸出功率低、有時(shí)或一次開(kāi)機(jī)后斷電、電源閃爍和輸出電壓偏高。無(wú)論出現(xiàn)什么問(wèn)題，我都會(huì)使用標(biāo)準(zhǔn)程序方法來(lái)測(cè)試它。

由于EMC是通過(guò)控制EMI(電磁干擾)來(lái)實(shí)現(xiàn)的，因此它進(jìn)行了一系列有關(guān)EMI的研究，例如EMI的介紹，EMI的研究，抗EMI解決方案和EMI管理。EMC的基本原則為了減少數(shù)字信號(hào)和模擬信號(hào)之間的干擾，首先需要了解EMC的兩個(gè)基本原理。例如毫無(wú)疑問(wèn)，與在普通環(huán)境中使用的電子產(chǎn)品相比。

Anritsu無(wú)線電綜測(cè)儀無(wú)反應(yīng)維修對(duì)策

-檢查無(wú)線電綜測(cè)儀開(kāi)關(guān)，保險(xiǎn)絲并放電大濾波電容器-如果保險(xiǎn)絲燒成深色，則電源部分可能會(huì)嚴(yán)重短路。它可能是短路的橋式整流器、短路的功率晶體管甚至是短路的電源 IC。不要低估開(kāi)關(guān)電源變壓器繞組短路的可能。如果保險(xiǎn)絲只是輕微撕裂，可能是保險(xiǎn)絲本身?yè)p壞了，因?yàn)楸ｋU(xiǎn)絲也是有壽命的。大多數(shù)情況下，只更換保險(xiǎn)絲即可解決無(wú)電源現(xiàn)象。
- 確保所有次無(wú)器件都在工作。您可以移除其中一根元器件引線以進(jìn)行準(zhǔn)確檢查，也可以使用本文所述的反激測(cè)試儀。
- 如果您修理顯示器，請(qǐng)檢查水平輸出晶體管、b+ FET 和反激變壓器。任何時(shí)候，如果這些組件中的任何一個(gè)出現(xiàn) 故障，都會(huì)影響電源功能。單擊藍(lán)色鏈接可以讀取 測(cè)試 FET 和反激變壓器。
- 用esr測(cè)試儀檢查初級(jí)和次級(jí)部分的所有無(wú)線電綜測(cè)儀電解電容器- 如果電源部分（初級(jí)或次級(jí)區(qū)域）有一些電解電容器故障，電源會(huì)閃爍，產(chǎn)生低輸出功率或*沒(méi)有電！
- 用反激式測(cè)試儀測(cè)試無(wú)線電綜測(cè)儀開(kāi)關(guān)電源變壓器的初級(jí)繞組。如果您修理顯示器，還要檢查反激式初級(jí)繞組、b+ 線圈繞組和水平軛線圈。其中一個(gè)線圈短路會(huì)導(dǎo)致電源關(guān)閉、閃爍和斷電。

圖例:這是標(biāo)記組件名稱和的簡(jiǎn)明指南。除了勞動(dòng)力成本因國(guó)家而異，因此，美國(guó)和歐洲的無(wú)線電綜合測(cè)試儀組裝商在價(jià)格上的優(yōu)勢(shì)不如人口密集的發(fā)展中國(guó)家(例如中國(guó))便宜。由于選擇匹配的無(wú)線電綜合測(cè)試儀組裝器是一個(gè)非常復(fù)雜的過(guò)程，僅爭(zhēng)取其中一個(gè)或幾個(gè)方面只是單方面的。很少通過(guò)普通的銅箔蝕刻技術(shù)獲得。

預(yù)熱區(qū)預(yù)熱階段會(huì)在無(wú)線電綜合測(cè)試儀上保持恒定的溫度上升，并待的助焊劑，一般而言，應(yīng)將升溫控制在恒定速度，以防止無(wú)線電綜合測(cè)試儀因快速加熱而變形。理想的溫升應(yīng)控制在3℃/s以下，理想的溫升為2℃/s。因此，基于WatchS1，iPhone8，iPhone8plus和iPhoneX的無(wú)線電綜合測(cè)試儀設(shè)計(jì)。

Anritsu無(wú)線電綜測(cè)儀無(wú)反應(yīng)維修對(duì)策 應(yīng)考慮EMC/EMI采取哪些措施，答一般而言，應(yīng)從輻射和傳導(dǎo)兩個(gè)方面考慮EMI/EMC設(shè)計(jì)。前者屬于頻率較高(大于30MHz)的部分，而后者屬于頻率較低(小于30MHz)的部分，因此，應(yīng)同時(shí)注意高頻部分和低頻部分。因此可以應(yīng)用邊距陣列，以便在兩個(gè)封裝的邊距處實(shí)現(xiàn)存儲(chǔ)設(shè)備和邏輯設(shè)備之間的互連。oiwhefgwerger