熒光分布成像系統(tǒng) EEM® View
什么是EEM View
新技術(shù)可同時獲得熒光 · 反射圖像和光譜
• 測定樣品的光譜數(shù)據(jù)（反射光譜、熒光光譜）
• 在不同光源條件（白光和單色光）下拍攝樣品
（區(qū)域:Φ20 mm、波長范圍:380~700 nm）
• 采用AI光譜圖像處理算法＊1，能夠分別顯示樣品熒光圖像和反射圖像
• 根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息＊1（熒光光譜、反射光譜）
計算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強副教授共同研究的成果
EEM View Analysis 界面（樣品：LED電路板）
熒光分布成像系統(tǒng) EEM® View
熒光分布成像系統(tǒng)概要
均勻的光源系統(tǒng)
同時獲取樣品的熒光 · 反射圖像和光譜！
• 積分球漫反射使光源均勻化
• 利用積分球收集的光均勻照射樣品
• 采用熒光檢測器和CMOS相機雙檢測模式
新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到F-7100熒光分光光度計的樣品倉內(nèi)。入射光經(jīng)過積分球的漫反射后均勻照射到樣品，利用F-7100標配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜，結(jié)合積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像，并利用*的AI光譜圖像處理算法，可以同時得到反射和熒光圖像。
樣品安裝簡單，適用于各種樣品測試！
樣品只需擺放到積分球上，安裝十分簡單！
• 板狀樣品：通過石英窗安裝樣品。
• 粉末樣品：將粉末填充至樣品平整夾具中，置于粉末樣品池支架，或使用選配件固體樣品支架中的粉末樣品池安裝樣品。
• 校正時，需放置好熒光標準樣品。
• 請使用選配的標準白板(100 %)和空白樣品(0 %)進行校正。此校正工具可被應(yīng)用于熒光強度、反射率校正， 以及圖像不同區(qū)域的亮度分布校正。
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