| Model | QTESTSTATION1000AD |
| 光源： | 150w(standard) |
| 波長范圍： | 200-1100 nm or more |
| 分辨率： | 1nm,5nm,10nm,as per order |
| 重復性： | <±0.2%@main wave range |
| 精度： | <±1%@main wave range |
| 光柵： | Double |
| 測試方法： | Chopped AC mode with Lockin Amplifier |
| 光斑尺寸： | Adjustable,0.5x0.5mm Min |
| 測量參數： | QE,Jsc@AM0,AM1.5G,AM2.0 |
| 計算機： | IPC pre-installed |
| 軟件： | Pharos-QE5.6 |
| 工作溫度: | 20℃ |
| 輸入電源： | 110-240VAC/5A |
| 外形尺寸： | 39x20×14"（WxDxH） |
| 注：欲了解更多的類型，請聯系銷售工程師 | |
量子效率測試儀測試方法與步驟：
（1）將待測CCD芯片和標準探測器，以及它們各自的驅動電路放置在暗室中，并調節測量系統各部分儀器的參數。打開光源的開關，使電流保證在8.4到8.6安，打開單色儀開關，打開皮安表開關和移動位移臺的開關。
（2）通過上位機程序控制待測CCD芯片電子快門，調整CCD芯片的積分時間來控制CCD芯片的曝光時間和曝光量。（一般調好不用管）。
（3）調節移動位移臺，將標準件調到和激光光斑重合處（目前大約41500）。
（4）記錄皮安表的數值，查表，找出對應波長的數值，用皮安表的數值除以查表得出的值，得出功率值。（正好皮安對皮瓦）
（5）蓋住CCD相機的鏡頭，在CCD上位軟件上，連接設備，連續采圖，設置參數中輸入對應波長，功率值后。再單擊量子效率，完成暗圖像的采集。
（6）調節移動位移臺，將CCD工業相機調到激光光斑重合處，（目前大約是回到原點）。
（7）揭開CCD的鏡頭，讓激光光斑打到CCD上，在設置參數中輸入對應波長，功率值后，亮圖上打上對勾。再單擊量子效率，完成亮圖像的采集。
（8）記錄量子效率測試儀的量子效率值。
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