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EDX-9000B XRF Spectrometer

能量色散X熒光光譜儀

礦產檢測專家

Simply the Best

>美國AmpTek -SDD探測器, 高分辨率高計數率

>真空測試環境提供優秀輕元素檢測效果

>無損元素分析涵蓋₁₁Na to ₉₂U

>適應各種復雜礦物樣品測試，固體，液體，合金，粉末和泥漿

>多組合濾光片系統，有效提高微量元素檢出限

>堅固的設計適用于于各種復雜而嚴苛的現場工作環境

EDX9000B能量色散熒光光譜儀-礦產分析專家

作為一款高性能的臺式能量色散X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX9000B配置了*基于Windows基本參數算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX9000B都可以輕松實現從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。分析速度快，測試結果精確，儀器性能穩定。

ESI英飛思EDX9000B光譜儀主要應用于在采礦過程的所有階段進行材料元素成分分析。從勘探樣品到礦物精礦，從選礦到尾礦，EDX9000B在苛刻的采礦環境中均具有出色的靈活性，分析性能和穩定性。

EDX9000B專注于對地質材料的主量，微量和痕量元素進行定性和定量分析，其中包括：

•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬礦產•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他

EDX9000B操作簡單，分析性能出色，同時還可拓展到以下應用

>塑膠及有機物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析

>石油化工：燃料，潤滑油監測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析

>環境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等

>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質等

>刑偵及公安：證據分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

產品特點

作為一款專為礦產元素分析而設計和生產的光譜儀，EDX-9000B兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優勢主要有：

•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結果

•強大的基于Windows的FP（基本參數算法）軟件降低了基體效應的影響

•50 kV 光管管和電制冷的SDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同時進行元素和氧化物成分分析

•多重儀器硬件保護系統，并可通過軟件進行全程實時監控, 讓儀器工作更穩定、更安全

•特別設計的光路和真空系統大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性，同時在測試Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的靈敏度和穩定性都有了明顯的提高

•友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

•八種光路準直系統，根據不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

礦產元素檢測專家EDX9000B

>儀器參數

儀器配置

功能強大而界面友好的測試軟件

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量。

軟件內核-基本參數法（FP）可輕松分析未知樣品。

EDX9000B已在工廠預安裝了軟件并進行了數據標定，客戶運行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復標定。強大的軟件功能還提供了

>一鍵初始化儀器，基體自動匹配

>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實時對比

>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強效應影響

>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度

>可實時刷新測量結果

>簡單的流程欄向導可幫助用戶創建新的自定義標定曲線

>可定制化測試報告，一鍵打印

>提供多種數據訪問接口，可兼容LIMS實驗室管理系統