執(zhí)行復(fù)雜的材料分析，例如太陽能電池表征和半導(dǎo)體質(zhì)量控制（例如：鈣鈦礦，GaAs，SiC，CIS，CIGS等）。
在復(fù)雜的環(huán)境（包括活細(xì)胞和組織）中研究IR標(biāo)記。以在第二生物窗口中發(fā)射的IR熒光團(tuán)的光譜異質(zhì)性為例。
檢索暗場圖像并獲得透明和未染色樣品（例如聚合物，晶體或活細(xì)胞）的對比度。
技術(shù)指標(biāo)：
| 光譜范圍 | VIS-SWIR型號 | |
|---|---|---|
可見光 | 短波 | |
| 光譜分辨率 | <2納米 | <4納米 |
| 相機(jī) | CCD，EMCCD，sCMOS | ZephIR 1.7 |
激發(fā)波長 | 405、447、532、561、660、730、785或808 nm | |
| 顯微鏡 | 直立或倒立；科學(xué)級 | |
| 空間分辨率 | 亞微米 | |
| 大樣本大小 | 10厘米x 10厘米 | |
| X，Y旅行范圍 | 76毫米x 52毫米 | |
| Z-階段分辨率 | 100納米 | |
| 照明 照明選項(xiàng) | 透射，透射，LED，HG，落射 熒光模塊，暗場模塊 | |
| 波長jue對精度 | 0.25nm | |
| 視頻模式 | 百萬像素相機(jī)用于樣品可視化 | |
| 數(shù)據(jù)處理 | 空間過濾，統(tǒng)計工具，頻譜提取，數(shù)據(jù)歸一化，頻譜校準(zhǔn)，疊加，中心位置圖等。 | |
| 超光譜數(shù)據(jù)格式 | HDF5，F(xiàn)ITS | |
| 單圖像數(shù)據(jù)格式 | HDF5，CSV，JPG，PNG，TIFF | |
| 軟件 | PHySpec™控制和分析（包括計算機(jī)） | |
| 尺寸圖 | ≅150厘米x 85厘米82厘米 | |
| 重量 | ≅80公斤 | |