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產品簡介
詳細介紹
使用400-1000 nm（V-EOS™）或1000-2300 nm（S-EOS™）內任何波長的全分辨率圖像，您可以*表征目標，Photon etc公司的寬視場高光譜成像儀將發生變化您對光譜分析的看法。優化的高光譜立方體的采集可以對全分辨率圖像的每個像素進行光譜分析，這意味著不再需要對樣品進行快速的XY掃描或限制遙感采集的曝光時間。V-EOS™和S-EOS™不僅帶來效率的提高，還提供有關光譜和空間內容的數據，使您能夠通過擴展苛刻應用程序的前沿來執行新穎的分析。
Photon Etc.的V-EOS ™ 可以在400-1000 nm 范圍內的任何波長為您提供目標的完整信息和全分辨率圖像，這將改變您的光譜分析視角。
V-EOS超光譜相機特點：
- 連續可調
- 非分散技術
- 高性能CCD
- 電動對焦
- 控制和分析軟件
V-EOS超光譜相機技術規格：
| 性能 | |
| 光譜通道 | 連續可調 |
| 空間分辨率 | 在1.20 m處2 mm，FOV為1.85 mx 1.35 m |
| 光譜范圍 | 400-1000納米 |
| 標準視野 （可定制） | 水平72º，垂直 50º |
| 校準 | 自動 |
| 波長jue對精度 | <0.4納米 |
| 入口大小 | 每個波長均無縫隙/全視場 |
| 光譜寬度采樣 | ≥0.1 nm可編程 |
| 光譜分辨率 | 2.5納米 |
| 光譜圖像速率 | 3幀/秒 |
| 像素大小 | 6.45微米x 6.45微米 |
| 動態蘭德（數字化） | 14位 |
| CCD幀頻 | 13.5幀/秒 |
| 微笑失真 | ≤0.5納米 |
| 梯形失真 | 沒有 |
| 桶變形 | ≤2％（由于寬視場入射光學器件） |
| 噪音水平 | 6e- @ 10兆赫 |
| 相機類型 | Interline |
| 相機采集（線性或矩陣） | 矩陣 |
| 鏡頭安裝標準 | C型安裝（CS型安裝選件） |
| 相機界面 | 火線 |
| 需要框架抓取器 | 沒有 |
| 接觸控制 | PHySpec™ 軟件控制 |
| BINNING | 1x1; 1x2; 2x1; 2x2 |
| 探測器類型 | CCD |
| 聚焦 | Motorized for Chromatism Correction |
| 軟件和數據處理 | |
| 操作系統 | Windows 7（64位） |
| 購置 | PHySpec™ 軟件 |
| 預處理 | 圖像穩定，空間濾波，統計工具， 光譜提取，數據歸一化，光譜校準 |
| 超光譜數據格式 | HDF5，FITS |
| 單圖像數據格式 | HDF5，CSV，JPG，PNG，TIFF |
| 光譜數據格式 | JPG，PNG，TIFF，CSV，PDF，SVG |
| 選項 | 包含C ++ SDK插件接口 |
| 尺寸，重量和功率 | |
| 腳印 | 305毫米x 610毫米x 270毫米 |
| 重量 | 20公斤 |
| 能量消耗 | ≤20 W（包括檢測器） |
| 可移植性 | |
| 安裝 | 305mmx610mm光學面包板; ¼英制螺紋 |
| 鼎 | 可選的 |
| 環境條件 | |
| 工作溫度 | 10-40ºC |
| 貯存溫度 | 0-50ºC |
| 配件類 | |
| 電腦 | 不包含 |
| 物鏡 | 已包含 |
| 參考面板 | 反射率標準和校準燈 |
