HIOKI 3535 lcr電橋測試儀

高速LCR儀，采樣率可高至120MHz

100kHz～120MHz的寬頻帶
高速LCR測試（6ms/采樣）
拆卸式前置放大器可選擇
為比較標準元件提供補償的“負載補償功能

基本參數
測量參數 |Z|，|Y|，Q，Rp，Rs(ESR)，G，X，B，θ，Ls，Lp，Cs，Cp，D(tanδ)
前置放大器
決定的測量量程
前置放大器 9700-01 9700-02 9700-03
Z和R 100mΩ～1kΩ 500Ω～10kΩ 5kΩ～100kΩ
C 1.33pF～15.9μF 0.133pF～3.18nF 0.1pF～318pF
L 1nH～1.59mH 663nH～15.9mH 6.63μH～159mH
θ -180.00°～180.00°

測量頻率 量程 100kHz～120MHz
分辨率設置 4位（使用前控制板設置）
100.0kHz～1.000MHz 100Hz幅度
1.000MHz～10.00MHz 1kHz幅度
10.00MHz～100.0MHz 10kHz幅度
100.0MHz～120.0MHz 100kHz幅度
使用GP-IB或RS-232C接口時，分辨率為1Hz。
精度 最大±0.005%，相對于設置值

HIOKI 3522-50 lcr電橋測試儀特點
3522-50使用寬廣量程的測試頻率及直流來測量阻抗，以使用方便、功能完備和性價比而見長

基本參數
測量參數 |Z|，|Y|，θ，Rp（DCR），Rs（ESR，DCR）, G，X，B，Cp，Cs，Lp，Ls，D（tanδ）和Q
測量方法 測量源：恒流10μ～100mA(AC/DC)，
或恒壓10mV～5V(AC/DC). 檢測： 電壓，AC或DC
測量頻率 DC或者1mHz～100kHz
測量量程 |Z|，|R|，X：10.00mΩ～200.00MΩ(視條件而定)
θ:-180.00～＋180.00°,C: 0.3200pF～1.0000F，
L: 16.000nH～750.00kH， D:0.00001～9.99999
Q: 0.01～999.99, |Y|，G，B: 5.0000nS～99.999S
基本精度 |Z|: ±0.08%rdg.，θ: ±0.05°
測量時間 |Z|的典型值 快速:5ms～慢速:828ms
顯示 最大顯示值99999，LCD背光功能
比較器功能 設定：上、下限值，百分比或絕值。
輸出：3檔（高，中，低）,開路集電極
外部打印 9442（搭配9443/9446/9593-01）
電源供應 100～240V，AC，50/60Hz
體積及重量 313寬×125高×290厚mm，4.5kg
附件 電源線（1），保險絲（1）

LCR測試儀IM3523測量方法：連續測量不同條件
在電容的測量條件中希望以120Hz測量C-D。希望以100kHz測量ESR。這時，使用1臺告訴連續測量不同條件。

LCR測試儀IM3523測量方法：順暢的進行生產線的設置更改的面板讀取功能
為了使用1臺LCR測試儀測量多種產品，要求高效率的更改設置。
IM3523的面板保存功能更，最多保存60組測量條件，還能保存128個開路/短路補償和線長補償等的補償值。使用面板功能讀取所保存的測量條件。除了手動讀取以外，可以使用外部控制端口控制面板編號的讀取，因此能縮短構筑自動化檢查產線的時間。

可靠的產線檢查：接觸檢查功能
檢查4端子測量時樣品間的接觸不良。
測量LPOT?LCUR間和HPOT?HCUR間的接觸電阻，如果在所設置的閾值以上時則顯示錯誤。

 基本精度±0.05％，測量范圍廣(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA)。
● 在例如C-D和ESR這樣的混合測量條件下，不間斷測試，速度是我司以往產品的10倍。
● 內置的低阻抗高精度模式可有效測量低感應或鋁電解電容的等效串聯電阻。
● (測量速度是以往產品3522-50的10倍，大大提高了反復性和穩定性)
● 模式，用于測量變壓器線圈比率，互感系數和溫度補償DCR。
● 頻率掃描測試(僅IM3533-01)
● 除標準0m/1m以外的2m/4m電纜設置。
● 內置比較器和BIN功能。
● 2ms的快速測試時間