• 大節點數：5184
• 大通道數：1152
• 占用面積：2.4 m x 0.8 m / 7.8’ x 2.6’
• 大模塊數：4

E9903E i307x 系列 5 是 i3070 系列 5 中支持節點數多的型號，達到了 5184 個節點。該系統采用與上一代產品――E9903D i307x 系統相同的易用型 GUI（圖形用戶界面）。自第/一款系列 1 3070 測試系統面市以來的數十年中，該系統一直保持著可移植性、可靠性和穩定性（TRS），包括當今元件所需要的使用低電壓測試的能力。

所有 i3070 系列 5 測試系統均加入了新的基礎架構，以便更加靈活地添加、控制和連接外部電子設備或儀器。該系統允許將外部電子設備插入測試頭，如同該設備已經集成與系統中。外部電子設備可以是功能性測試電路，用于為 ICT 提供額外的功能測試范圍，或者為被測單元提供額外的激勵，以改善測試覆蓋范圍。外部電子設備控制、測試順序和測試結果仍通過 BT-BASIC 測試計劃來實現，由用戶熟悉的測試頭 PC 控制器執行。

為了支持增強的性能，PCBA 如今擁有更高的電流要求，因此可通過測試儀向被測單元送入 10 A 的電流。電源端口也可經過多路復用處理，所以一個電源可以多向一個面板中不同的 6 個電路板供電，每個功率通道都由一個繼電器控制，以保護被測單元。

i3070 系列 5 測試系統包含了一個新的模擬激勵和測量單元（ASRU），可將模擬測試速度提高 20%，進而提高產量。

此前版本中的受限接入測試工具也包含在該測試系統中。

如果您的大型電路板需要速度更快，測試覆蓋率更高的測試，那么，E9903E i307x 系列 5 系統將是/佳選擇。

所有 Medalist i3070 測試系統都支持多路復用（Mux）pin 卡和非多路復用（UnMux）pin卡。這樣，在您使用該系統時就會有更多的靈活性。