目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統>>顯微缺陷膜厚>> 液晶層間隙量測設備 RETS series
● 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器
● 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板
● 安全對策和粒子對策,可對應液晶line內的檢查設備
● 封入cell gap
● twist角 *
● rubbing角 *
● pretilt角[TN,IPS,FFS,MVA] *
● 空cell gap *
● 相位差(復折射相位差)的波長分散 *
● 光學軸 *
● 橢圓率/方位角 *
● 三次元折射率/Rth/β *
● 分光光譜/色度*
● 液晶cell
- 透過、半透過型液晶cell(TFT、TN、STN、IPS、VA、OCB、強感應電)
- 反射型液晶cell(TFT、TN、IPS、VA)
● 光學材料
- 其他(相位差?橢圓?偏光膜、液晶材料)
型號 | RETS series |
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樣品尺寸 | 20mm×20mm ~* |
cell gap測量范圍 | 0.1μm ~數10μm |
cell gap重復性 | ±0.005μm |
檢出器 | 多通道分光光度計 |
測量波長范圍 | 400nm ~ 800nm |
光學系 透過用偏光子unit | 偏光光學系 消光比 10-5內置Gran-tomson prism(方解石) 自動旋轉(角度精度0.1°)、自動裝卸機構 |
測量口徑 | φ2, φ5, φ10 (mm) |
光軸傾斜機構 | -20 ~ 45°、-45 ~ 45°等 |
相位差與液晶層間隙值
液晶面內分布圖