目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>光譜系統>>顯微缺陷膜厚>> 分光配光測量系統 GP series
發光強度角分布（配光）
光譜輻射通量（光譜）
飽和度坐標 (u’, v’) [JIS Z8781-5]
飽和度坐標 (x, y) [JIS Z 8724]
顯色指數（Ra、R1 至 R15）[JIS Z 8726]
相關色溫和 Duv [JIS Z 8725]
主波長（Dominant）和刺激純度（Purity）[JIS Z8781-3]
IES（符合 LM63-2002 和 JIS Z8105-5）文件
* 1 IES分析軟件[大冢電子制造]也可以讀取和分析其他公司的光分布測量設備計算出的IES文件。
| 模型 | GP-500 *1 | GP-1100 *1 | GP-2000 | ||||
| 光學系統*2 | 2軸測角儀 | ||||||
| θφ坐標系 | θφ坐標系 | αβ坐標系/θφ坐標系 | |||||
| 光路長度 | 500 毫米或更小 | 500-1500mm | 1500 毫米或更多 | ||||
| 對應樣品 | LED芯片 | 通用照明 模塊 | 一般照明，包括直管燈 | ||||
| 探測器 | 多通道光譜儀 | ||||||
| 測量波長范圍 *3 | 220nm-2500nm | ||||||
| 評價項目 | 光強度的角度分布（光分布） 光譜輻射通量（spectrum） 色度坐標（u’，v’）[JIS Z8781-5] 色度坐標（x，y）[JIS Z 8724] ·主要波長（Dominant）和刺激純度（Purity）[JIS Z8781-3] ·相關色溫和Duv[JIS Z 8725] ·色彩性能評價數（Ra，R1至R15）[JIS Z 8726] ·IES（LM63-2002）和 JIS Z 8105-5 兼容） | ||||||
* 1 可以進行光譜輻射的光分布測量 * 2 兼容IESNA LM-75 * 3 可以選擇檢測器的波長范圍
* 4 IES 分析軟件[大冢電子制造] 由另一家公司的光分布測量設備計算。IES 文件可以閱讀和分析
| 坐標系 類型 | 相對于極軸的傾斜角 （垂直角） | 以極軸為旋轉中心的傾斜角 （水平角） | IESNA LM-75 符號 | ||||
| 角標 | 角度范圍 | 角標 | 角度范圍 | ||||
| αβ坐標系 | α | -90°≤α≤90° | β | -180°≤β<180° | B型 | ||
| θφ坐標系 | θ | 0°≤θ≤180° | θ | 0°≤φ<360° | C型 | ||
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