ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統

ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。粒徑測量范圍（0.6nm～10μm），濃度范圍（0.00001%～40%）。實測電氣滲透流，高精度的ZETA電位測量，最小容量是130μL～的一次性cell。另，在0～90℃的大的溫度范圍內，測量自動溫度的梯度空間，分析変性?相轉移溫度

選型表

*1：需搭配選配件PH滴定儀  *2：需搭配選配件PH滴定儀和粒徑流動容器

特點

●最新型號高靈敏度APD，提高靈敏度，縮短測量時間

●通過自動溫度梯度測量可以進行變性、相變溫度分析

●可以在0 ~ 90℃的寬溫度范圍內進行測量

●增加寬范圍分子量測定和分析功能

●可對應渾濁的高濃度樣品的粒徑·ZETA電位測定

●測量樣品池內的電滲透流，通過圖譜分析提供高精度的ZETA電位測量結果

●可對應高鹽濃度溶液的ZETA電位測定

●可對應小尺寸固體樣品的ZETA電位測量

用途

非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究，不僅對應微小顆粒，還適用于薄膜和平板表面的科學研究。

●新型功能材料領域

燃料電池相關（碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬）

納米生物相關（納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子）、納米氣泡等。

●陶瓷/著色材料工業領域

陶瓷（二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等）

無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制

顏料的分散/聚集控制（炭黑/有機顏料）

漿料狀樣品

濾光器

浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究

●半導體領域

異物附著在硅晶片表面的原理解析

研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究

CMP漿料的相互作用

●高分子聚合物/化工領域

乳液（涂料/粘合劑）的分散/聚集控制，乳膠的表面改性（醫藥/工業）

聚電解質（聚苯乙烯磺酸鹽，聚羧酸等）的功能性研究、功能納米顆粒

紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究

●制藥/食品工業領域 　

乳液（食品/香料/醫療/化妝品）分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測

脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑（膠束）機能性檢測