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S-MRS系列漫反射率測試系統應用:
• 光譜測量范圍:350-2500nm ;光譜分辨率:2nm以下;光譜掃描步距:0.2-100nm可連續設置
• 波長準確度:優于±0.2nm(紫外-可見區),優于±0.5nm;(近紅外區)
• 光度測量準確度:1%以內(紫外-可見區),2%以內;(近紅外區)
• 光度測量重復性:1% (450nm-1800nm) ;測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm
S-MRS系列漫反射率測試系統特點
• 光譜測量范圍:350-2500nm ;光譜分辨率:2nm以下;光譜掃描步距:0.2-100nm可連續設置
• 波長準確度:優于±0.2nm(紫外-可見區),優于±0.5nm;(近紅外區)
• 光度測量準確度:1%以內(紫外-可見區),2%以內;(近紅外區)
• 光度測量重復性:1% (450nm-1800nm) ;測試試樣尺寸(典型):直徑大于15mm,若同時測試透過率,則樣品厚度必須小于5mm