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首頁>>上海波銘科學儀器有限公司>>產品展示>>半導體材料測試>>體微缺陷測試

  • SIRM紅外體微缺陷分析儀 參考價：面議

    SIRM是非接觸和非破壞型光學檢測設備，對體微缺陷，如氧化物和金屬沉淀，位錯、堆垛層錯，體材料中的滑線和空隙等進行測試。這個技術也可對GaAs 和 InP等復合...
    型號： 廠商性質：生產商所在地：上海市 對比
    體微缺陷測試
    2025/1/23 13:07:39427

  • LST體微缺陷測試設備 參考價：面議

    LST是檢測半導體材料的體微缺陷有力工具，通過CCD相機，對入射光在樣品邊沿的散射進行掃描，獲得體微缺陷分布信息。
    型號： 廠商性質：生產商所在地：上海市 對比
    體微缺陷測試
    2025/1/23 13:06:03431
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