1、HN7011A手持式直流電阻測試儀
溫升直流電阻測試儀 絕緣油耐壓測試儀
性能特點

1、電馳供電或者220V交流供電自適應，一次充電。

2、輸出六檔電流，輸出10A電流，輸出25V電壓，并且可自動選擇電流。

3、量程寬、準度高，500uΩ～50KΩ。

4、具有電阻溫度換算功能，可選配無線測溫模塊，實時測量現場試品溫度，以確保電阻折算值的準確性。允許服務器從工廠車間的控制器收集實時數據，并在標準數據庫中進行檢索、添加、刪除和更新數據記錄。這是通過支持與微軟Access兼容的數據庫、結構化查詢語言（SQL）服務器或開放式數據庫連接（ODBC）的連接來完成的。一些市場上的軟件工具允許用戶在IT企業系統和PLC之間建立連接，從而可以從PLC收集數據并保存在數據庫中。這些服務器的配置工作量通常很小，用戶可以將其配置為僅收集其流程所需的數據。這些數據庫功能，提供了跟蹤物料移動和生產指標的實際應用。

HN7010A變壓器直流電阻測試儀

產品特點
    1、整機由單片機控制，自動化程度高，操作簡便。
    2、儀器采用電源技術，電流檔位多，測量范圍寬，可根據負載選擇電流，適合中小型變壓器和電壓互感器的直流電阻測量。半導體生產流程由晶圓制造，晶圓測試，芯片封裝和封裝后測試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測試環節的相關知識經常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測試的相關內容，主要集中在WAT，CP和FT三個環節。集成電路設計、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對Wafer劃片槽（ScribeLine）測試鍵（TestKey）的測試，通過電性參數來監控各步工藝是否正常和穩定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測廠的依據，測試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測試機臺上，由WATRecipe自動控制測試位置和內容，測完某條TestKey后，ProbeCard會自動移到下一條TestKey，直到整片Wafer測試完成。
   變壓器直流電阻測試儀產品特點
    1、輸出電流：

<5mA、40mA、200mA、1A、5A、10A、20A、40A、60A、100A、600A
    2、分辨率：0.1μΩ
    3、量程：100Ω-20KΩ  （<5mA檔）   

1Ω-200Ω （40mA檔）   

100mΩ-40Ω   (200mA檔)       

5mΩ-6Ω    (1A檔)
          1mΩ-2Ω   (3A檔)             

0.5mΩ-200mΩ(10A檔)
    4、準確度：±(0.2%+2字)
   即使總線存在一定范圍內的共模干擾，也能正確進行以上識別。測試原理框圖如下圖，其中框圖中的U1是DUT供電電壓、U2是共模電壓、U3是差分電平。CANDT設備隱性輸入電壓限值測試原理框圖CANDT設備顯性輸入電壓限值測試原理框圖注：ISO11898-2標準中，要求增大差分電壓值的是電流源，由于電流源本身的輸出電容較大，系統響應較慢，不適合來模擬電流源，這里使用電壓源串聯電阻的方式來等效電流源。CANDT測試流程隱性輸入電壓限值測試如測試原理框圖連接狀態，DUT和CANDT需正常通信；斷開電壓源U3，調節電壓源U2，逐步將共模電壓調到6.5V或-2V，在此期間DUT應能正常發送報文；調節電壓源U3，逐步將差分電平調到隱性電平上限值0.5V，判斷DUT是否能夠正常發送報文，若能，則表示測試通過。

HN7033A三通道直流電阻測試儀

   三通道直流電阻測試儀是用于大容量變壓器繞組直流電阻三相測量的儀器。該儀器可對變壓器繞組三相測試，對有載調壓變壓器可直接調節分接，不需要放電，測試時間為傳統方法的三分之一，解決了電力變壓器直流電阻測試耗時長的難題。儀器采用大屏幕液晶顯示，中文菜單提示，配有打印機，且具有數據存儲功能，方便數據的讀取和記錄，測試數據穩定，重復性好，抗干擾能力強，充放電速度快，是現場測試變壓器直流電阻的選擇。關于光譜分析入門光譜分析是一種測量技術；它通過測量材料與不同波長光的相互作用情況來檢查材料的屬性。有幾種不同的交互作用可被測量，包括材料對光的吸收、反射和透射。材料的特性可通過測量有多少光能被吸收以及哪些波長的能量被吸收進行分析。吸收的波長取決于材料成分——脂肪、蛋白質和不同類型的糖分子——而吸收的強度由材料的內部成分的濃度決定。根據由材料表面層反射光的強度和波長，也可以對材料進行定性分析，而反射光的強度和波長由成分和表面本身的屬性決定。