BW-AH-5520 

半導體高精度自動溫度實驗系統

       BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統采用特殊的結構設計，保證待測元器件區域溫度高穩定度及均勻度。采用雙高精度 RTD 溫度傳感器進行精密控溫及過溫保護，并具有多重保護功能，可以對器件在不同溫度下的性能進行精密測量分析及篩選。

可針對以下封裝的半導體器件進行高精度自動溫度實驗測量。

  產品特點：

     1、自主開發的圓形內腔軸對稱設計，循環氣流控制，保證待測器件區域溫度的高精密穩定度及均勻度。

     2、適用于DIP, SMD等各種封裝的小型電子元件、分立器件、集成電路等精密在線高低溫測試。

     3、精密步進電機驅動實現自動過程測試（Leaded驅動環）。

     4、根據待測器件封裝形式及規格可自定義溫測圈的工位。

     5、測試試驗箱測試腔體上蓋可以自動電動升降，方便取放溫測圈。

     6、每批次器件測量同配置參數、同工位、同溫度測點、精確測量器件的溫度特性，參數同比環比分析。配置RS-232接口及Ethernet接口，可實現遠程自動控制。

自主開發的圓形內腔軸對稱設計，循環氣流控制，保證待測器件區域溫度的高精密穩定度及均勻度（+/-0.1°C（-55°C~150°C）；+/-0.8°C（150°C~200°C）溫度分辨率：0.01°C）用于DIP,SMD等各種封裝的電子元件、分立器件、集成電路等精密在線高低溫測試。