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ST-21L方塊電阻測試儀半導體薄層電阻儀

ST-21L方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
ST-21H方塊電阻測試儀以大規模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

ST-21L方塊電阻測試儀特點

1、采用大規模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩定，低功耗；
2、以大屏幕LCD顯示讀數，直觀清晰；
3、采用單個電池供電，帶電池欠壓指示；
4、體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g；
5、特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜

6、探頭帶抗靜電模塊

ST-21L方塊電阻測試儀技術參數

測量范圍
   按方塊電阻量值大小分為二個量程檔：
   1.方塊電阻 1.00～19.999Ω/□；
   2.方塊電阻 10.0～199.99Ω/□；
   *小分辨率：0.001Ω/□
恒流源： 測量過程誤差：≤±0.8%
模數轉換器：
  量程：0～199.99mv；
  分辨率：10μv；
  方式：LCD大屏幕顯示；極性，超量程均自動顯示；小數點同步顯示；
測量不確定度：在整個量程范圍內，測量不確定度≤5%
四探針探頭規格：間距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ
電源：9V疊層電池1節

 ST-21L方塊電阻測試儀可選配HP系列四探針探頭的型號及規格：

 ST-21L方塊電阻測試儀可選配SP-601型方型四探針探頭的型號及規格

ST-21L方塊電阻測試儀半導體薄層電阻儀