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產品簡介
詳細介紹
雙燈太陽光模擬器
為什么選擇全光譜太陽光模擬器？？？
一、目前氙燈太陽光模擬器可用光譜范圍只有300nm~1100nm，這對于硅晶體系太陽能電池/組件等光譜響應范圍比較窄的測試沒有問題；但是對于光譜響應范圍超過1100nm的前后結、多結、半導體化合物等和新型薄膜太陽能電池測試，就不能實現全光譜范圍的*響應，此時測量的數據則不能準確表達太陽能電池本征性能；采用全光譜太陽光模擬器可有效解決這個問題；
第二、光譜不匹配性優于±5%（高于標準值±25%），有效的避免了光譜不匹配引起的光譜失配誤差，不僅大大提高測試結果的準確性，而且增加了數據的可信度；
雙燈太陽光模擬器
主要應用：
滿足各種太陽能電池的測試，例如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon，nc-Si，Microcrystalline Silicon，mc-Si)、半導體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、有機導電高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)、鈣鈦礦太陽能電池、疊層太陽能電池測試等；
主要特點：
1）匹配AA*標準；
2）AM1.5G，范圍：300nm~1800nm；
3）光譜不匹配度(IEC 60904-9 ): <±5%，class A+ ；
4）有效照射面積內光強不均勻度(IEC 60904-9 ): <1.5%，class A+ ；
5) 光強穩定度(IEC 60904-9 ): 0.5%，class A+ ；
6）光源穩定輸出壽命：1000小時；
7）有效照射面積：50mm×50mm；
8）擴展AM0光譜；
9）光強調節范圍：±30%；
擴展功能：
1）測試源表；
2）測試探針臺；
4）標準電池reference Cell；
5）多路控制器；
6）溫控測試臺；
7）IV測試軟件:
*基本測量功能： 完整 I-V 曲線測量， 完整 P-V 曲線測量，短路電流 Isc 測量，開路電壓 Voc 測量， 短路電流密度 Jsc 測量，峰值功率 Pmax 測量，峰值功率電流 Imp 測量，峰值功率電壓 Vmp 測量，效率測量，填充因子 FF 測量，串聯電阻 Rs 測量，并聯電阻 Rsh 測量；
*Light光照條件下，太陽能電池IV 和PV曲線測量（包含Forward正向掃描和Reverse反向掃描測試功能）；
*Light光照條件或Dark無光照條件下，太陽能電池I-V 和P-V曲線測量，I-t曲線和V-t曲線測量；
*Bias偏壓或Steady State穩態測量功能（太陽能電池效率衰減測試功能）；
*MPPT大功率追蹤測試功能（Pmax大功率點隨時間的變化）；
*Repeatability 重復性測試功能；