產(chǎn)品分類 品牌分類

光催化及光敏材料測試設(shè)備

光催化專用太陽光模擬器高準(zhǔn)直紫外光源
鈣鈦礦LED/OLED測試設(shè)備

發(fā)光效率測量系統(tǒng) 光譜分析系統(tǒng) 光電性能測量系統(tǒng)
日本SAN-EI 太陽光模擬器

AAA+級(jí)雙光太陽光模擬器 AAA太陽光模擬器 150W 太陽光模擬器聚光太陽光模擬器太陽能電池IV性能測試儀太陽能電池組件測試儀太陽能電池測試多通道太陽能電池穩(wěn)定性測試 OLED模擬軟件太陽能電池穩(wěn)定性測試太陽能電池載流子測試光纖太陽光模擬器光譜響應(yīng)/量子效率量測儀全光譜太陽光模擬器太陽能電池量子效率測試系統(tǒng) AAA級(jí)太陽光模擬器雙燈太陽光模擬器穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器瞬態(tài)光電流/光電壓測試系統(tǒng) 太陽能電池載流子測試設(shè)備載流子擴(kuò)散長度測試系統(tǒng)
薄膜性能測試設(shè)備

薄膜應(yīng)力測試儀薄膜熱應(yīng)力測量系統(tǒng) 薄膜生長速率測試儀薄膜/涂層殘余應(yīng)力儀電池電極應(yīng)力測試系統(tǒng) 薄膜應(yīng)力測量系統(tǒng) 原位薄膜應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力測試系統(tǒng) kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測試儀 kSA 400 RHEED分析系統(tǒng) 反射高能電子衍射儀 RHEED 應(yīng)力測量系統(tǒng)
共聚焦顯微鏡
激光光束質(zhì)量分析儀
納米材料制備設(shè)備

石墨烯制備系統(tǒng)（CVD）噴霧熱解成膜系統(tǒng) 碳納米管CVD制備系統(tǒng) 原子層沉積系統(tǒng) 卷對(duì)卷涂布系統(tǒng) 涂布機(jī)
微納米加工設(shè)備

納米壓印系統(tǒng)
介電/壓電材料測試設(shè)備

電卡效應(yīng)測試儀高溫介電測試系統(tǒng) 熱釋電測試儀熱刺激電流測試儀精密壓電系數(shù)測試儀高分子壓電系數(shù)測試儀高場寬頻譜介電測量系統(tǒng) 低溫寬頻介電測量系統(tǒng) 電滯回線及高壓介電擊穿強(qiáng)度測試系統(tǒng) 高壓漏電流及熱釋電測量系統(tǒng) 電容充放電測試儀
太陽能電池測試設(shè)備

瞬態(tài)光電壓測試瞬態(tài)光電流測試太陽能電池老化測試太陽能電池老化壽命測試儀鈣鈦礦太陽能電池測試儀太陽能電池單體測試儀太陽能電池測試夾具太陽能電池IV測試軟件
氙燈電源
高純度鈣鈦礦前驅(qū)體材料
其他相關(guān)設(shè)備

EES：識(shí)別上升時(shí)間常數(shù)以量化鈣鈦礦太陽能電池中的電荷載流子提取

閱讀：890 發(fā)布時(shí)間：2024/2/28

主要內(nèi)容

鈣鈦礦太陽能電池（PSCs）的小擾動(dòng)分析突出了一個(gè)基本難題，即時(shí)域測量產(chǎn)生了與光電壓或光電流的上升和隨后衰減相對(duì)應(yīng)的兩個(gè)時(shí)間常數(shù)，但相應(yīng)的頻域方法僅從傳遞函數(shù)的負(fù)虛部分析中產(chǎn)生一個(gè)時(shí)間常數(shù)。

為了解決這個(gè)問題，研究團(tuán)隊(duì)提出了一種頻域傳遞函數(shù)的修改，該函數(shù)側(cè)重于在高頻下向負(fù)值的轉(zhuǎn)變。在使用漂移擴(kuò)散模擬和等效電路分析進(jìn)行驗(yàn)證后，將該方法應(yīng)用于PSC實(shí)驗(yàn)強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜數(shù)據(jù)，可以計(jì)算隱藏的上升時(shí)間常數(shù)，顯示出與瞬態(tài)光電壓測量獲得上升時(shí)間常量的良好一致性。

將這些測量與瞬態(tài)光致發(fā)光測量相結(jié)合可以計(jì)算出決定電荷收集效率的品質(zhì)因數(shù)（FOM）。研究團(tuán)隊(duì)在1sun開路電壓或接近1sun開路的電壓下確定了0.7-0.95之間的大FOM值，表明在這些條件下，傳輸層中存在顯著的電場，可以快速收集電荷。