美國APT開爾文探針簡介：

   開爾文探針是一種基于振動電容的非接觸無損氣相環境金屬表面電位的測量技術，用于測量材料的功函數(Work Function)或表面勢(Surface Potential)。它可以用于檢測氣相環境中因溫度、濕度、表面的化學、電學、力學、晶體、吸附、成膜等因素引起的材料表面電勢的微小變化，是一種高靈敏的表面電化學分析技術，是只有能夠測定氣相環境中腐蝕電極表面電位的方法。

美國APT開爾文探針電學特點：

Current leakage: < 10 fA   (漏電精度高)

Frequency: > 150 MHz       (測試頻率高)

Capacitance (Guarded): < 10 fF

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

備注：

APT開爾文探針適用于四線法測試 ，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響 ，保證小電阻的測試準確性。

另外 ，一些高頻測試 ，比如150M左右 ，也可以采用這個。

D.   GGB 12C有源探頭

•輸入電容0.1pf

•輸入電阻1.0兆歐

•工作電壓范圍 -10 to +20V

•帶寬dc to 500 MHz

• 12C夾具替換用探針  ( 12C-x-xx)

•射頻探針夾具源 ，可以同時支持兩個探頭使用  ( PS-2)

常用Model 40A系列

產品特點：

( 1)   測試頻率范圍：      DC to 40 GHz

( 2)   輸入衰減   ≤ 0.8db

( 3)   反射損耗≧ 18 db

(4)   腳間距:25 to 2540um可選  (腳間距越大  ，    損耗越嚴重)

( 5)   測試重復性優于-80db

( 6)   單獨彈簧加載觸點設計

( 7)   材質：      BeCu , TungQRen or Nickel tips available

( 8)     GSG  ，    SG  ，    SG  ，    GSGSG 等可選

( 9)   同軸設計