CMOS線掃描傳感器ZS64A5K

CMOS線掃描傳感器ZS64A5K

所述ZS64A5K 是CMOS線掃描傳感器與用于非接觸三維測(cè)量非常高的分辨率。借助于透鏡，將要測(cè)量的對(duì)象成像到傳感器中的線性CMOS陣列。鏡頭確定測(cè)量范圍。標(biāo)準(zhǔn)鏡頭可覆蓋1毫米至5000毫米的測(cè)量范圍。 

 ZS64A5K的特性：

• 高分辨率1：64000
• 測(cè)量范圍5 mm – 5000 mm
• 高靈敏度，可縮短曝光時(shí)間
• 掃描速率4673 / s
• 掃描寬度窄
• 標(biāo)準(zhǔn)版本：檢測(cè)兩個(gè)邊緣位置，亮/暗或暗/亮
• 測(cè)量值：邊A，邊B，BA或（A + B）/ 2
• 可選版本：大檢測(cè) 八個(gè)邊緣位置
• 模擬，校準(zhǔn)的實(shí)時(shí)測(cè)量值

CMOS線掃描傳感器ZS64A5K

引伸計(jì)概述

引伸計(jì)是一種在材料測(cè)試（例如拉伸測(cè)試）過(guò)程中測(cè)量材料樣品應(yīng)變的儀器。原則上，引伸計(jì)有兩種類型：接觸式和非接觸式。接觸測(cè)量可以通過(guò)夾式引伸計(jì)進(jìn)行；這種儀器具有至少兩個(gè)機(jī)械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會(huì)導(dǎo)致邊緣之間的距離變長(zhǎng)，這與樣本長(zhǎng)度的變化相對(duì)應(yīng)。

對(duì)于非接觸式測(cè)量，使用模擬或數(shù)字光學(xué)引伸計(jì)。為了測(cè)量材料樣品上的應(yīng)變，樣品通常帶有黑白標(biāo)記。引伸計(jì)內(nèi)的傳感器檢測(cè)標(biāo)記的運(yùn)動(dòng)，從而檢測(cè)拉伸試驗(yàn)期間長(zhǎng)度的變化。有引伸計(jì)，即使材料樣品溫度非常高（高達(dá)3000°C），它們也能夠測(cè)量非常快的應(yīng)變（> 100 m / s）。

在拉伸試驗(yàn)中，非接觸式測(cè)量裝置是有利的。通常可以將它們?cè)O(shè)置在距樣品一定距離的位置，以防止樣品的飛散碎片損壞測(cè)量?jī)x器。因此，光學(xué)引伸計(jì)也適用于破壞性材料測(cè)試期間的測(cè)量。

H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學(xué)引伸計(jì)：

• 引伸計(jì)200XR可進(jìn)行高達(dá)500 kHz的非常快速的測(cè)試
• CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實(shí)現(xiàn)1：64000和4673測(cè)量的高分辨率
• 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS，可實(shí)現(xiàn)1：16000的高分辨率和高穩(wěn)定性
• 引伸計(jì)ZS32和ZS32HS分別具有1：32000的分辨率