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當前位置：> 供求商機> SR-M-反射顯微膜厚儀
一、產品特點
■ 光斑大小可進行定制，小可達到10um；
■ 非接觸、非破壞測量；
■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析；
■ 配置靈活、支持定制化；
■ 采用高強度鹵素光源，光源穩定性好；
■ 采用光機電高度整合一體化設計，體積小，操作簡便；
■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理，多種算法可輕松解析單層到多層薄膜的結構信息；
二、產品應用
顯微膜厚儀可以廣泛應用于各種介質保護膜、有機薄膜、無機薄膜、金屬膜、涂層等薄膜測量，在科學研究和工藝控制上有著廣泛的用途。
三、技術參數
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