6報名方式
對于半導(dǎo)體QC來說，F(xiàn)T-IR光譜作為一種簡單而有效的工具從眾多手段中脫穎而出。布魯克生產(chǎn)的FT-IR譜儀可提供各種產(chǎn)品組合，用以幫助在開發(fā)和過程控制方面進(jìn)行創(chuàng)新。
講堂主題：布魯克FTIR在硅產(chǎn)品質(zhì)控領(lǐng)域的系列方案
開播時間：7月28日（周三）15:30準(zhǔn)時開播
演講人：布魯克光譜德國應(yīng)用專家 吳丹博士
在此次舉行的免費(fèi)網(wǎng)絡(luò)研討會中，我們將向您介紹布魯克使用FT-IR光譜進(jìn)行半導(dǎo)體質(zhì)量控制的高靈敏度解決方案，敬請關(guān)注！
報名方式
長按下方二維碼，或點擊左下方“閱讀原文”。
進(jìn)入鏈接后，點擊“預(yù)約報名”并填寫報名表，提交后即報名成功。
(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務(wù)