（1）覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
（2）基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)；
（3）任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響；
（4）探頭接觸面有一定磨損。常用測(cè)厚探頭表面為丙烯樹脂，長(zhǎng)期使用會(huì)使其表面粗糙度增加，導(dǎo)致靈敏度下降，從而造成顯示不正確。可選用 500#砂紙打磨，使其平滑并保證平行度。如仍不穩(wěn)定，則考慮更換探頭。
（5）試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度，粗糙度增大，影響增大。
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