MT12/ST1287/ST1278/ST1288測量長度計介紹：
測量過程中，由于測量力、接觸形式、被測件的自重等原因將使測量器具或被測件產生彈性變形，造成測量誤差。具體將，彈性變形主要有儀器支架變形，被測件（如量塊、線紋尺等）的支撐變形；測頭、工作臺與被測件的接觸變形等。為什么接觸式的測量器具都規定有測量力；為什么要規定接觸形式；為什么在測量細長的被測件時要適當地選擇支承點等，都是力圖減少彈性變形，以減少彈性變形引起的測量誤差。  
1．彈性變形引起的測量誤差  
（1）支承變形  
當被測件水平放置時，其彎曲變形量的大小和變形狀態與支承方式和支點的位置有密切的關系，對細長被測件而言，自重的影響更為顯著。  
（2）接觸變形  
2.不正確地選擇測量力的大小、接觸體的材料及接觸方式將會引起較大的表面接觸變形。  
MT12/ST1287/ST1278/ST1288測量長度計測量力引起的接觸變形  
接觸測量時，測量儀器必須有足夠的測量力，以保證測頭與被測件可靠地接觸。但測量力的存在將在接觸位置產生壓陷變形而造成測量誤差。一般按被測件公差來確定測量力的大小，當被測件公差小于2μm時，測量力不應高于2.5N；被測件公差2～10μm時，測量力應為2.5～4N；被測件公差大于10μm時，測量力應大于4N，小于10N。②與接觸方式接觸變形有關常見的接觸方式分為點接觸、線接觸和面接觸。從變形與接觸面的關系講，接觸面積越小、壓強越大，變形也越大。顯然在相同的測量力的情況下點接觸變形最大，面接觸變形最小。接觸方式在一般的測量要求中都有規定。如量塊測量是用球測頭對平面；外徑千分尺測直徑是平面測頭對圓柱面；內徑千分表測內徑是球測頭對圓柱面等等。我們在測量過程中一般都應遵循上述原則。

ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19A 1.50 TTLx5 100.00 90 OT 39 01.. 346474-02 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 66S12 19A 1.50 ~1Vpp 100.00 90 OT 39 01.. 346474-03 
ST 1279 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx5 50.00 90 OT 0V 010001 346478-01 
ST 1279 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx5 50.00 90 OT 0V 370001 346478-11 
ST 1288 12 1.0 5mm KF01 02S12 19A 1.50 ~1Vpp 0.00 360 .. 03 01.. 349165-01 
ST 1208 12 1.0 5mm KF01 02S09 19R 1.50 ~11µApp 0.00 360 .. 04 01.. 349216-01 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx10 25.00 90 OT 0V 01.. 349218-01 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx5 100.00 90 OT 0V 01.. 349218-02 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 1.50 TTLx10 100.00 90 OT 0V 01.. 349218-03 
ST 1278 12 1.0 5mm KF01 93S15 19R 3.00 TTLx10 100.00 90 OT 0V 01.. 349218-04 

阿貝原則又稱布線原則、串聯原則，是長度測量中一個重要的原則。 定義：“如果要使測量儀器得出正確的測量結果，則必須將儀器的標尺安裝在被測件測量中心線的延長線上。”凡違反阿貝原則所產生的誤差叫阿貝誤差。 符合阿貝原則所產生的誤差是二次誤差，當表尺與被稱為測件測量中心線的夾角很小時，此誤差可忽略不計。不符合阿貝原則所產生的誤差是一次誤差，標準尺與被測件的距離越大，誤差越大，它是一種不可忽視的誤差。 
按阿貝原則設計的最典型的儀器是阿貝比長儀、立式光學計、測長儀等。這樣，由于導軌的不直度誤差所造成的傾斜角的影響只能產生二次誤差，因此對儀器導軌直線度的要求可以降低，這就降低了儀器制造成本。但缺點是串聯布置，加大儀器長度尺寸，溫度對變形影響也大。因此，在某些情況下不得不違反阿貝原則，采用并聯布置的方式。如：游標卡尺測工件、萬能工具顯微鏡縱向測量等。為減少所產生的測量誤差（一次誤差），一方面要提高導軌的加工精度，另一方面在測量時盡量縮短標準尺與被測件的距離。