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HAST環境老化試驗箱
是利用高溫高大氣壓力的條件(達3 atm)來加速潮氣通過外部保護材料或芯片引線周圍的戀封封裝的試驗設備，用于評估產品及材料在高溫，高濕，高氣壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效過程，該試驗檢查芯片及其他材料長期貯存條件下，高溫和時間對器件的影響。本
規范適用于
產品簡介
詳細介紹
SHK-B301 HAST老化試驗箱
設備概述
HAST環境老化試驗箱是利用高溫(通常為130°℃)
高相對濕度(約85%)、高大氣壓力的條件
(達3 atm)來加速潮氣通過外部保護材料
或芯片引線周圍的戀封封裝的試驗設備，
用于評估產品及材料在高溫，高濕，高氣
壓條件下對濕度的抵抗能力，加速其失效
過程，該試驗檢查芯片及其他材料長期貯
存條件下，高溫和時間對器件的影響。本
規范適用于量產芯片驗證測試階段的HAST
測試需求，僅針對非密封封裝(塑料封裝)
帶偏置(bHAST)和不帶偏置(uHAST)的測試
軍工、核工業、航空航天、電子、電器、半導體芯片、汽車、通訊設備、等行業。
高溫高濕作用于試驗樣品上，可以構成水汽吸附，吸收和擴散，許多材料在吸入濕度后膨脹,性能變差，引起強度降低，機械性能下降，吸附了水汽的絕緣材料引起電性能下降等。所以在一定的時間下完成HAST試驗以此來確認產品的質量度。
滿足測試標準：
GB-T2423.40-1997電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
IEC60068-2-66-1994環境試驗第2-66部分:試驗方法試驗Cx:穩態濕熱(不飽合加壓蒸汽) JESD22-A100循環溫濕度偏置壽命
JESD22-A101 THB加速式溫濕度及偏壓測試 JESD22-A102加速水汽抵抗性-無偏置高壓蒸煮
JESD22-A108溫度，偏置電壓，以及工作壽命(IC壽命試驗) JESD22-A110高加速溫濕度應力試驗(HAST)
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--無偏壓HAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)
產品特點:
用戶可以查看他們希望查看任何數據
通過電腦安全便捷的遠程訪問
多層級的敏感數據保護
便捷的程序入口、試驗設置和產品監控
試驗數據可以導出為Excel格式并通過USB接口進行傳輸
HAST測試條件有130℃，85%RH，230KPa大氣壓，96hour測試時間。
主要參數：
型號 | SHK-HAST-350 | SHK-HAST-450 | SHK-HAST-650 |
內箱尺寸 | 300*450 | 400*550 | 650*750 |
外箱尺寸 | 795*1450*1500 | 750*1300*1070 | 1010*1550*1250 |
溫度范圍 | 100℃ → +132℃ 、 D:100℃ →+142℃.M:100℃ →+155℃ | ||
壓力范圍 | 0.2~2k8/co2(0.05~0196mPa)、0.2~3kg/cm2(0.05~0294MP;) | ||
加壓時間 | 約55min | ||
外部氣源加壓時間 | 約5min | ||
溫度均勻度 | ±0.5℃(濕度100%R,H),±1%(濕度75%R.H) | ||
溫度波動度 | ±0.5℃ | ||
濕度范圍 | 65%~100%R.H | ||
濕度波動度 | ±2.5%R.H. | ||
濕度均勻度 | ±3.0%R.H | ||
控制器 | 7寸“TFT彩色LCD，具備定值/程序方式運行-溫度/溫度/混球品度等 | ||
解析度 | 溫度:0.01℃濕度:0.1%RH，壓力:0.1kx/cm，電壓:0.01DCv | ||
通訊功能 | RS-485排口連接電腦，USB數據保存 | ||
溫度傳感器 | PT-100 | ||
外殼材質 | 不銹鋼高級烤漆 | ||
內箱材質 | 不銹鋼SUS316 | ||
保溫材料 | 玻璃棉 | ||
BIAS偏壓端子（選購） | 依據用戶需求定制 | ||
電源 | AC380V 三相四線·保護地線 | ||
安全系統 | 傳感器保護，第一險段高溫保護、第一階段高壓保護、電壓過載保護、電壓監控、手動給水、錯誤停機自動泄壓、排水儲水、錯誤原因顯示機排解參考、記錄錯誤功能、接地泄漏、溫度加熱器高溫保護、馬達過載保護、錯誤偵測機安全保護 | ||
功率 | 4.5kw | 6kw | 8kw |