GU41-10B320-T200 IC器件測試插座(高頻測試插座)GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距),適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座。

IC器件測試插座示意圖
IC器件測試插座、高頻測試插座
GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座
1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值
-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間
短-溫度范圍(典型值)
-40至+150℃(典型值)
[可接受的器件]
FTGB196(賽靈思)
256針FBGA(英特爾)
FT256/FTG256(賽靈思)
FG256/FGG256(賽靈思)
FG320/FGG320(賽靈思)
[可接受的器件]
FTGB196(賽靈思)
256針FBGA(英特爾)
FT256/FTG256(賽靈思)
FG256/FGG256(賽靈思)
FG320/FGG320(賽靈思)
GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座
1.0mm/0.039“間距18x18觸點最大值
-也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間
短-溫度范圍(典型值)
-40至+150℃(典型值)
