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高光譜成像儀應用于Micro-LED快速檢測
閱讀：979 發(fā)布時間：2021-7-13
隨著消費電子技術(shù)和產(chǎn)品的發(fā)展，Micro-LED作為下一代可能的顯示器需要一種高速的檢測技術(shù)以滿足大批量生產(chǎn)制造的需求。高光譜成像技術(shù)恰好具有滿足這個需求的前景。
針對某個客戶提供的Micro-LED樣品和檢測要求，我公司的技術(shù)人員在之前的高光譜顯微成像系統(tǒng)的基礎(chǔ)上做了大量改進，在樣品測試中取得了良好的效果。
下圖是我們采用的檢測系統(tǒng)基本構(gòu)成。
Micro-LED燈珠誘導發(fā)光影像及光譜
Micro-LED是在某個尺寸的晶圓上通過類似于光刻的技術(shù)手段制作出按規(guī)則排列的微型LED燈珠，最終成為Micro-LED顯示器。
我們改進的成像高光譜檢測系統(tǒng)可以清楚的觀察到燈珠之間的間隙，區(qū)分正負極，分辨出“盲珠”并且利用專有軟件判斷每個燈珠發(fā)光的波長準確性、發(fā)光顏色和亮度等。最終實現(xiàn)工業(yè)級的高速檢測。