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產品簡介
該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態的物性與容積狀態的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態下進行。根據物體表面溫度按余弦（或正弦）規律變化時的瞬態實驗模型。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數或導熱系數。儀器*于研究薄膜材料熱物
詳細介紹
該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態的物性與容積狀態的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態下進行。根據物體表面溫度按余弦（或正弦）規律變化時的瞬態實驗模型。采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數或導熱系數。儀器于研究薄膜材料熱物性特性。
主要技術參數：
1．導熱系數范圍：0.05～20w/m·k
2．儀器實現數字化測溫，精度優于0.2級。
3．測量結果，準確度 ±3%
4．計量加熱功率可調節±1%。
5.試樣尺寸要求：圓柱體￠15--30*5--30mm .
6.溫度和保護氣氛按用戶要求定制。
7.配接計算機實現全自動測試分析。
