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貨物所在地:北京北京市
所在地: 北京
更新時(shí)間:2025-03-26 15:57:27
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含量極低:
巖金礦:Au常為1-10 g/t(≈1-10 ppm)
砂金礦:可能低至0.1 g/t
鉑族元素(Pt、Pd等):多低于1 ppm
干擾因素多:
共生礦物(如黃鐵礦包裹金)
基體效應(yīng)(銅銀共生礦中的信號(hào)重疊)
手持式XRF光譜儀
野外快速篩查金礦(Au)、銀礦(Ag)等,檢測(cè)限通常為5~50 ppm。
無(wú)法直接檢測(cè)鉑族元素(如Pt、Pd需高性能型號(hào))。
便攜、無(wú)損、速度快(10秒/點(diǎn))。
礦石檢測(cè)儀器 IP65防護(hù)等級(jí) 礦物分析儀
樣品制備:
XRF檢測(cè)面需打磨至400目以上
避免使用含鉛拋光劑(干擾Au信號(hào))
校準(zhǔn)驗(yàn)證:
每日用標(biāo)樣(如GSA-8A金礦標(biāo)樣)校準(zhǔn)
當(dāng)檢測(cè)值接近設(shè)備檢出下限,必須實(shí)驗(yàn)室復(fù)檢
數(shù)據(jù)解讀:
手持XRF的"Au"峰值需排除Hg干擾(常見(jiàn)于銻金礦)
礦產(chǎn)勘探
快速圈定礦化帶,識(shí)別礦石品位(如銅、鐵、鋅等)。
開采與選礦
實(shí)時(shí)監(jiān)控礦石品位,優(yōu)化分選和冶煉流程。
環(huán)保與回收
檢測(cè)尾礦有害元素(如鉛、砷),或電子廢棄物中的金屬含量。
學(xué)術(shù)研究
地質(zhì)調(diào)查、礦床成因研究等。
樣品要求:表面平整(可配備研磨工具),避免潮濕或鍍層干擾。
安全防護(hù):XRF儀器需避免直射人體,符合輻射安全標(biāo)準(zhǔn)(如FDA 21 CFR)。
校準(zhǔn)維護(hù):定期使用標(biāo)準(zhǔn)樣校準(zhǔn),確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。
手持礦石分析儀顯著提升了野外工作效率,降低了實(shí)驗(yàn)室送樣成本,是現(xiàn)代地質(zhì)和礦業(yè)領(lǐng)域的優(yōu)選工具。選擇時(shí)需根據(jù)目標(biāo)元素、檢測(cè)精度及環(huán)境條件綜合評(píng)估。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)