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透射掃描電鏡檢測技術服務
閱讀：1436 發布時間：2019-12-18技術服務介紹
透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收，故穿透力低，樣品的密度、厚度等都會影響到后的成像質量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50～100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法：超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體樣品，通常是掛預處理過的銅網上進行觀察。
掃描電鏡主要用二次電子觀察形貌，成像原理如圖所示。在掃描電鏡中，電子槍發射出來的電子束，經三個電磁透鏡聚焦后，成直徑為幾個納米的電子束。末級透鏡上部的掃描線圈能使電子束在試樣表面上做光柵狀掃描。試樣在電子束作用下，激發出各種信號，信號的強度取決于試樣表面的形貌、受激區域的成分和晶體取向。設在試樣附近的探測器把激發出的電子信號接受下來，經信號處理放大系統后，輸送到顯象管柵極以調制顯象管的亮度。由于顯象管中的電子束和鏡筒中的電子束是同步掃描的，顯象管上各點的亮度是由試樣上各點激發出的電子信號強度來調制的，即由試樣表面上任一點所收集來的信號強度與顯象管屏上相應點亮度之間是一一對應的。因此，試樣各點狀態不同，顯象管各點相應的亮度也必不同，由此得到的象一定是試樣狀態的反映。放置在試樣斜上方的波譜儀和能譜儀是用來收集X射線，借以實現X射線微區成分分析的。值得強調的是，入射電子束在試樣表面上是逐點掃描的，象是逐點記錄的，因此試樣各點所激發出來的各種信號都可選錄出來，并可同時在相鄰的幾個顯象管上顯示出來，這給試樣綜合分析帶來極大的方便。
技術服務內容
| 服務內容 | 結果內容 | 備注 |
| TEM透射電鏡 | 提供5-8張圖片/樣和圖片分析 | 含超薄切片和樣本處理。特殊組織定位另算 |
| SEM掃描電鏡 |
實驗結果展示
客戶須知
電鏡標本要求
1）透射電鏡需客戶提供1mm3 左右的組織塊，取材部位要求盡量精準。
2）掃描電鏡，需客戶提供10*10*5mm大小的組織塊。
3）如為細胞，細胞數需≥106
實驗周期
20個工作日內（具體實驗周期視實驗設計方案而異）