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當用一定尺寸的X線源拍攝該星卡分辨率測試卡的X光片時，可觀察到模糊區域，通過觀察此區域即可確定焦點的大小。由于半影效應，來自焦點不同區域的放射線會引起星卡分辨率測試卡的周期性模糊。根據已知的幾何因素和星卡中心到模糊區之間的距離，就可以象利用針孔照相機技術一樣準確地計算出焦點尺寸。
07-456高純度鋁梯級楔
^● 根據US 聯邦規范 GG-X-635C 制作
^● 確定mAs線性
^● 確定對比度vs. kVp
^● 用于： －暗室霧測試 －膠片和顯示屏的對比 －繪制技術圖表這些高純度鋁梯級楔上，相同階數的鋁楔以鋁數字區別 w

07-503 至07-551規格：
07-503-2000 高精度星形X光機檢測模板, 直經55mm。用于測量0.1mm到0.3 mm的焦點。模板上有4個 15°的鉛箔網扇形區，扇形區內每條鉛線都有0.5°角。鉛箔厚度0.03mm。

07-503-1000 超高精度星形X光機檢測模板（規格與07-503-2相同）
07-509-2000 高精度星形X光機檢測模板, 直徑55mm. 用于測量1 mm以上的焦點.模板上有4個45°的鉛箔網扇形區，扇形區內每條鉛線都有2°角。鉛箔厚度0.05mm。
07-509-1000超高精度星形X光機檢測模板（規格與07-509-2相同）
07-542-2000 精密星形X光機檢測模板，直徑55mm。用于測量0.3mm到0.6mm的焦點。模板上有4個28°的鉛箔網扇形區，扇形區內每條鉛線都有1°角。鉛箔厚度0.03mm。

07-542-1000 超高精度星形X光機檢測模板（規格與07-542-2相同）