德國ROENTDEK檢測器MCP系列
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ROENTDEK檢測器兩個特異性制品組件鏈接roentdek MCP型探測器,即這dld和十六進制與高壓模塊(如供roentdek hv2 / 4)和與前端電子器件(例如roentdek費)繼續處理探測器信號檢索兩個小時和位置坐標為detected顆粒。
該產品組件還可以包括法蘭安裝齒輪探測器,例如ft12tp100安裝dld40上dn100cf(icf153)法蘭。安裝齒輪圖紙在roentdek網站提供。
ROENTDEK檢測器產品規格:
信號輸出帶寬:約500兆赫
工作電壓:4千伏
輸入阻抗:陽極信號150歐姆
ROENTDEK光子探測器DLD40
ROENTDEK光子探測器DLD40
ROENTDEK光子探測器DLD40: 2-dim延遲線檢測器 微通道板(L / D 60:1,1.5mm厚(25μm孔),外徑50mm,電阻匹配在10%以內)人字紋構造,有效直徑> 42mm,質量線性直徑40mm。檢測器尺寸:直徑95mm,深度30mm。檢測器的速率容差至少為1 MHz。
DLD80: 2-dim延遲線檢測器 微通道板(L / D 60:1,1.5mm厚(25μm孔),外徑87mm,電阻匹配在10%以內),人字紋構造,有效直徑> 75mm,質量線直徑75mm。檢測器尺寸:直徑145 mm,深度30 mm。檢測器的速率容差至少為1MHz。
HEX75b:具有改善的多點容差(零死區時間)的2-dim延遲線檢測器,包括 微通道板(L / D 75:1,1mm厚(13μm 孔),87mm外徑,OAR 70%,電阻匹配在10%以內),人字紋疊層配置,檢測器的有效直徑為75mm。檢測器尺寸:直徑196mm,深度30mm。
DLD120: 2-dim延遲線檢測器 微通道板(L / D 60:1,1.5mm厚(25μm孔),127mm外徑,電阻匹配在10%以內),人字紋構造,有效直徑120mm,質量直徑115mm。檢測器尺寸:直徑196mm,深度30mm。檢測器的速率容差至少為1MHz。
DET40 / 75:粒子計數檢測器 微通道板(L / D 74:1,1mm厚,13微米孔徑,OAR 70%,成像等級,50 / 87mm外徑(有效> 40/75mm),匹配電阻在10%以內,金屬(正時)陽極。無法蘭安裝的檢測器尺寸):直徑66/106 mm,深度10 mm。計數率至少為1 MHz。
RS-DET40: CF100(ICF153)上的法蘭安裝的40 mm MCP堆疊(Chevron),帶電阻屏,用于空氣側讀出電極上的圖像充電信號拾取(模塊化,例如延遲線,楔形和帶狀,成像像素)。包括信號饋通和MCP定時拾取(如FT4TP)。
ROENTDEK光子探測器以外熱門的型號:
ROENTDEK光子探測器產品型號:DLD40、DLD40EP、DLD80、DLD75eT、HEX75b、f HEX75 / 40、HEX40o、HEX75o、HEX120o、DLD120、DLD150、DLD105、HEX100、DET40 / 75、RS-DET40、RS-DET75、DLD40X、DLD75X。
將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射(各向同性)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、化學等領域,在生物學和植物學也有應用。
偏光顯微是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當然這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點,就是將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射性(各向同性)或雙折射性(各向異性)。
雙折射性是晶體的基本特征。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導體、化學等領域。在生物學中,很多結構也具有雙折射性,這就需要利用偏光顯微鏡加以區分。在植物學方面,如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細胞壁以及細胞質與組織中是否含有晶體等。在植物病理上,病菌的入侵,常引起組織內化學性質的改變,可以偏光顯微術進行鑒別。將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射(各向同性)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、化學等領域,在生物學和植物學也有應用。
偏光顯微是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當然這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點,就是將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射性(各向同性)或雙折射性(各向異性)。
雙折射性是晶體的基本特征。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導體、化學等領域。在生物學中,很多結構也具有雙折射性,這就需要利用偏光顯微鏡加以區分。在植物學方面,如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細胞壁以及細胞質與組織中是否含有晶體等。在植物病理上,病菌的入侵,常引起組織內化學性質的改變,可以偏光顯微術進行鑒別。將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射(各向同性)或雙折射性(各向異性)。雙折射性是晶體的基本特性。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、化學等領域,在生物學和植物學也有應用。
偏光顯微是鑒定物質細微結構光學性質的一種顯微鏡。凡具有雙折射性的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當然這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可能,而必須利用偏光顯微鏡。
偏光顯微鏡的特點,就是將普通光改變為偏振光進行鏡檢的方法,以鑒別某一物質是單折射性(各向同性)或雙折射性(各向異性)。
雙折射性是晶體的基本特征。因此,偏光顯微鏡被廣泛地應用在礦物、高分子、纖維、玻璃、半導體、化學等領域。在生物學中,很多結構也具有雙折射性,這就需要利用偏光顯微鏡加以區分。在植物學方面,如鑒別纖維、染色體、紡錘絲、淀粉粒、細胞壁以及細胞質與組織中是否含有晶體等。在植物病理上,病菌的入侵,常引起組織內化學性質的改變,可以偏光顯微術進行鑒別。